Leica DMILM HC und Leica DMIRM HC – Zwei neue inverse Mikroskope für die metallografische Qualitätskontrolle und die Materialforschung
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Die neuen inversen Mikroskope, Leica DM ILM HC für Routine- und Materialprüfung und Leica DM IRM HC für universelle Prüf- und Forschungsaufgaben, erreichen durch das neue einheitliche HC-Prinzip und das Standardkonzept der Unendlichoptik eine breite Kompatibilität der Bauteil- und Zubehörgruppen bei inversen und aufrechten Mikroskopen.
K. Luthardt
Leica Microsystems Wetzlar GmbH, Deutschland
Mitteilungen für Wissenschaft und Technik
Ausgabe CDR 2, S. 3–26
April 1999
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