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由徕卡TCS SMD FLIM系统进行FLIM测量

 

荧光寿命定义

荧光寿命是指荧光物质发出光子并回到基态之前,在激发态停留的平均时间。荧光物质发出光子的时间不是固定的,而是有一定的时间分布,可由指数衰减函数来描述。衰减曲线特征性的时间常数即为荧光寿命,通常为数皮秒(10-12 秒)至数十纳秒(10-9 秒)。

 

荧光寿命作为纳米环境的探针

荧光寿命是荧光染料的特征参数,可能会受到微环境构象的影响而发生改变。寿命信息可用于研究分子环境的构成,如离子浓度、pH、亲脂性或与其他分子的结合等。

 

寿命测量与成像相结合

FLIM将寿命测量和成像相结合,图像显示每一像素点的寿命。FLIM显示荧光分子的空间分布及其纳米环境,由此获取了全新维度的信息。

FLIM数据获取和分析原理

1.   以像素点为基础,反复测量发出激光脉冲后到探测到荧光光子之间的时间间隔

2.   以光子数对脉冲发出后的到达时间作直方图计算。

3.   对直方图进行指数衰减拟合,曲线振幅代表光子数,时间常数τ即为荧光寿命。

4..   用伪彩显示寿命图像

FLIM Data acquisition and analysis, step 1
Step 4