光谱式荧光寿命成像

徕卡TCS SMD FLIM可配置光谱式FLIM检测器,其前端无需放置任何滤片,使实验设计更为灵活。

SMD FLIM实验向导让您可轻松选择FLIM检测范围,并进行FLIM光谱扫描

特征

  • 可根据样品的荧光性质,在全光谱波段自由选择FLIM检测范围
  • 附加信息可用于区分光谱重叠或寿命接近的多种染料
  • 最优化的FLIM-FRET实验
  • 通过自发荧光特性来识别代谢状态
  • 光谱式寿命指纹:识别特征性的寿命-波长模式

SP FLIM PMT的光谱自由度

SP FLIM 光电倍增管整合于扫描头的光谱模块中,确保了实验条件的优化调节,并能有效去除自发荧光。荧光经棱镜分光后,在到达检测器前,由软件控制带反射镜的滑块选择检测波长范围,使FLIM的光谱检测范围选择具有极大的自由度和灵活性。

全新维度 - FLIM波长扫描

SMD FLIM向导中,使用SP FLIM检测器进行FLIM波长扫描,获取不同波段的FLIM图像。寿命发射光谱识别和描述自发荧光或新染料、更好地区分性质相似的染料识别染料的构象和聚合尤为有用。

SP Detection
SP Detection