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EMBL Advanced Course - Intensivkurs für Super-Resolution-Mikroskopie

10. bis 15. Juli 2017 in Heidelberg

Sie mit der Fluoreszenz-Mikroskopie vertraut und wollen Super-Resolution-Mikroskopie erlernen und anwenden? Dann melden Sie sich noch heute für den sechstägigen Intensivkurs am EMBL (European Molecular Biology Laboratory) an. Dort lernen Sie Methoden der 3D-Höchstauflösungsmikroskopie STED und GSDIM/dSTORM in Theorie und Praxis kennen.   

Der Kurs findet vom 10. bis 15. Juli 2017 am EMBL in Heidelberg, in Zusammenarbeit mit Leica Microsystems statt. Interessenten können sich bis 25. April 2017 anmelden. Die Zahl der Teilnehmer ist auf 20 begrenzt. 

Praxis am System erlernen 

Der Kurs richtet sich an Doktoranden, Postdocs und Wissenschaftler in der biomedizinischen Forschung, die die Super-Resolution-Methoden STED oder dSTORM/GSDiM in ihren aktuellen Projekten einsetzen wollen. Für das praxisorientierte Lernen stehen am EMBL unter anderem zwei Leica SR GSD 3D und zwei Leica TCS SP8 STED 3X Systeme zur Verfügung.

Neben den erfahrenen Kursleitern Marko Lampe und Rainer Pepperkok (EMBL) sowie Ulf Schwarz (Leica Microsystems), sorgen Vorträge von Wissenschaftlern wie Christian Eggeling (University of Oxford) und Jan Ellenberg (EMBL) und praktische Arbeit mit fixierten und lebenden Proben unter Anleitung erfahrener Trainer an den Mikroskopen für ein umfassendes Training zu den Themen:

  • Probenvorbereitung
  • Mehrfarben-3D-STED-Mikroskopie
  • Mehrfarben-3D-Lokalisierungsmikroskopie
  • Datenanalyse für die Lokalisierungsmikroskopie
  • Dekonvolution für STED-Aufnahmen
  • Lebendzell-Super-Resolution Mikroskopie

Optional: drei zusätzliche Tage mit eigenen Proben arbeiten

Wenn Sie unter Anleitung an eigenen Proben arbeiten wollen, können Sie drei zusätzliche Kurstage buchen. Der optionale Kursteil findet vom 17. bis 19. Juli 2017 statt, direkt im Anschluss an den Hauptkurs. Bitte vermerken Sie die Zusatzbuchung bereits bei Ihrer Anmeldung.  

Weitere Informationen zum Kurs und zur Anmeldung finden Sie hier:

https://www.embl.de/training/events/2017/MIC17-03/

 

 

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