Ionenstrahlätzsystem Leica EM TIC 3X

Nahezu artefaktfreie Oberflächenpräparation an fast allen Materialien war noch nie so komfortabel wie jetzt, durch die Verwendung der Leica EM TIC 3X.

Die Leica EM TIC 3X ermöglicht die Herstellung von Querschnitten von hartem, weichem, porösen, wärmeempfindlichen, sprödem und heterogenem Material für REM, Mikrostruktur Analysen und AFM Untersuchungen.

Drei voneinander unabhängig einstellbare Ionenquellen, wahlweise ein Standardprobentisch, ein Kühltisch oder die Verwendung des Mehrfachprobentisches gewährleisten eine optimale Geräteausstattung für die erforderliche Probenpräparation von hoher Oberflächenqualität als Resultat.

For research use only
Leica EM TIC 3X

Ihre Vorteile

Hoher Probendurchsatz

Das einzigartige dreifach Ionenstrahlsystem optimiert die Qualität der Querschnitte und reduziert die Prozesszeit dank seiner Fähigkeit mit hoher Abtragsrate sehr grosse Oberflächen zu präparieren. Unter Verwendung des Mehrfachprobentisches können Sie bis zu drei Proben - ohne Unterbrechnung des Arbeitsprozesses - in einem Durchlauf präparieren. Das macht die Leica EM TIC 3X zu einem perfekten Instrument für Labore mit hohem Probenpräparationsaufkommen.

Probenhalter

Es stehen verschiedene Probenhalter für bis zu 50x50x10 mm Probengrösse zur Verfügung.

Konfigurierbares System

Abhängig von Ihren Präparationsbedürfnisen kann die Leica EM TIC 3X individuell, durch das Benutzen von auswechselbaren Probentischen, einfach und rasch konfiguriert werden. Dafür stehen ein Standardprobentisch, ein Mehrfachprobentisch und ein Kühltisch zur Verfügung.

Klare Visualisierung der Oberflächentopografie

Bei Verwendung des Standardprobentisches kann der gleiche Probenhalter sowohl für das Böschungsätzen als auch zur Kontrastverstärkung genutzt werden.

Kühltisch

Probenhalter und Maske können bis zu -150° C abgekühlt werden. Dies ermöglicht Ihnen eine Präparation von wärmeempfindlichen Proben wie z. B. Gummi, Polymere oder auch Nahrungsmittel