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Leica EM TIC020 Ion Beam Milling

Böschungsätzsystem mit Dreistrahltechnik Leica EM TIC020

Archiviertes Produkt
Ersetzt durch Leica EM TIC 3X

Im August 2011 wurde das neue Böschungsätzsystem Leica EM TIC 3X vorgestellt welches das Leica EM TIC020 Böschungsätzsystem ersetzt.

Das Leica EM TIC020 Böschungsätzsystem mit Dreistrahltechnik erlaubt eine präzise, effiziente Zielpräparation von Proben für die REM-Analyse.

Mit ihm können qualitativ hochwertige, großflächige Querschnitte praktisch jeglicher Materialien hergestellt werden. Die Probenhalter erlauben eine Probenaufnahme von bis zu 50x50x10 mm.  Die mechanische Vorpräparation wird dabei auf ein Minimum begrenzt. Das System verfügt über eine Dreifach-Ionenquelle mit einem dreiachsigen Probentisch und einem Beobachtungsmikroskop.

For research use only
Leica TIC020: Böschungsätzsystem mit Dreistrahltechnik

Neues Modell

Leica EM TIC 3X
Leica EM TIC 3X Ionenstrahlätzsystem