Lichtmikroskope - Industrie & Materialanalyse - Kontaktfreie Oberflächenmessungen

Eine Kombination von Konfokal- und Interferometrietechnologie ermöglicht Ihnen, Oberflächen schnell und mit hoher Auflösung in der Z-Achse bis 0,1 nm zu messen und zu analysieren – so erhalten Sie Konfokal- und Hellfeldbilder in einem Arbeitsgang. Kontaktfreie Messsysteme von Leica Microsystems sind so konzipiert, dass sie schnelle, nicht-invasive Analysen von Mikro und Nanostrukturen verschiedenster Oberflächenbeschaffungen ermöglichen.