Stativlösung für die Inspektion großer Proben bei hohen Vergrößerungen: Leica XL Stand

Das Leica XL-Stativ ist Teil einer modularen Lösung für die Inspektion von großen Proben bei hoher Vergrößerung: Leiterplatten, forensische Untersuchungen an Werkzeugspuren oder die Prüfung und Dokumentation von TFT- und LCD-Displays sind nur einige Beispiele.

Der optionale XY-Tisch ist mit einer ESD-Matte ausgestattet, die empfindliche elektronische Bauteile vor Schäden durch elektrostatische Entladungen schützt. Der XY-Tisch kann mit Proben bis 400×450 mm verwendet werden, der Verfahrweg beträgt 300×300 mm. Damit lässt sich z.B. eine A4-große Fläche untersuchen, ohne dass die Probe neu ausgerichtet werden muss.

Leica Universalbasis XL für die Inspektion von grossen Proben

Ihre Vorteile

Ideal für große Proben

Die XL-Erweiterung eignet sich für große Proben mit einer Tiefe von bis zu 360 mm.

Bewegen von großen Proben

Der optionale XY-Tisch bietet einen Verfahrweg von 300×300 mm. Damit werden große Proben (wie z.B. Leiterplatten) ohne Neupositionierung erfasst.

Empfindliche elektronische Bauteile

Die universelle Basisplatte erdet die ESD-Matte, um die Beschädigung von empfindlichen elektronischen Komponenten zu vermeiden.

Feinjustierung

Mit seiner präzisen Feinjustierung erleichtert der optionale XY-Tisch die Arbeit bei hoher Vergrößerung.