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Inspeccione obleas de hasta 6 pulgadas (15,24 cm, aprox.) rápidamente con un 30 % más de campo visual

Nuevo sistema de inspección DM3 XL para aplicaciones de rutina en la industria

Sistema de inspección para la microelectrónica y los semiconductores DM3 XL

La inspección, el control de procesos o el análisis de defectos y fallos en la industria de la microelectrónica y los semiconductores deben ser rápidos y precisos. Por eso, Leica Microsystems ha desarrollado el sistema de inspección DM3 XL sumamente eficaz para aplicaciones de rutina. 

El sistema de inspección DM3 XL ofrece un exclusivo objetivo macro con un campo visual de 35,7 mm, un 30 % más que con los objetivos de escaneado convencionales. Los operadores pueden escanear fácilmente obleas de hasta 6 pulgadas (15,24 cm, aprox.) a gran velocidad y detectar defectos rápidamente. El revelado insuficiente en el borde o en el centro de la oblea, así como los espesores irregulares de las capas se hacen claramente visibles.

Para los diversos tipos de tamaños de muestras, el sistema DM3 XL ofrece una variada selección de accesorios de platina, como inserciones metálicas, porta-obleas o porta-máscaras. Los operadores pueden localizar fácilmente los componentes y las áreas de interés ya que la platina de 150 mm x 150 mm ofrece la posibilidad de movimiento rápido o preciso.

Puesto que las condiciones de trabajo cómodas conducen a mayor eficacia y mejor calidad, Leica Microsystems ha diseñado un concepto de manejo muy fácil de usar. Con controles fácilmente accesibles, los usuarios pueden mantener los ojos en la muestra y las manos en el microscopio mientras cambian las técnicas de contraste o la iluminación. Con iluminación LED integrada, el sistema DM3 XL proporciona una temperatura de color constante y ofrece imágenes a color reales en todos los niveles de intensidad.

Se actualiza fácilmente eligiendo un módulo de software dedicado y una cámara de microscopía para un análisis y una documentación eficaces y de alta calidad.

Para más información, visite la página de producto del sistema de inspección DM3 XL.