Sistema de metrología de superficies ópticas 3D Leica DCM 3D

Producto archivado
Sustituido por Leica DCM8

El sistema Leica DCM 3D de tecnología de doble núcleo ha sido diseñado para el análisis rápido y sin contacto de estructuras microscópicas y nanoestructuras en superficies técnicas y está disponible en múltiples configuraciones.

El sistema DCM 3D combina la tecnología confocal con la interferometría para realizar mediciones a alta velocidad con una excelente resolución de hasta 0,1 nm.

La tecnología confocal con microvisualizador, sin partes móviles, es capaz de medir una gran variedad de materiales y adquirir imágenes confocales y de campo claro simultáneamente.

Visite nuestro seminario web: Aplicaciones de microscopía confocal e interferometría en metrología de superficies e inspección

Tecnología confocal e interferométrica para mediciones de alta velocidad y resolución.