Sistemas de medición sin contacto - Metrología de superficies

La tecnología confocal e interferométrica se combinan para realizar mediciones de alta velocidad y alta resolución para la metrología de superficies. Mida materiales hasta 0,1 nm mientras obtiene imágenes confocales y de campo claro. Disponiblse en múltiples configuraciones, los sistemas de medición sin contacto de Leica están diseñados específicamente para proporcionar un análisis rápido y no invasivo de estructuras microscópicas y nanoestructuras para diferentes superficies técnicas.

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