Sistema de fresado con haz de iones Leica EM RES102

Consiga planos inclinados finos, limpios, desbastados y cortados, y prepare las muestras con la máxima flexibilidad gracias al sistema Leica EM RES102. El exclusivo sistema de fresado por iones combina la preparación de muestras para TEM, SEM y LM en una sola unidad de sobremesa.

Los diferentes tipos de portamuestras permiten llevar a cabo una amplia gama de aplicaciones. Además del fresado por iones de alta energía, el sistema Leica EM RES102 también puede utilizarse para el procesamiento de muestras extremadamente delicadas con haces de iones de baja energía.

For research use only
Sistema de fresado por iones Leica EM RES102

Sus ventajas

Eficaz y rentable

Un único sistema para aplicaciones de TEM, SEM y LM

Preparación mediante SEM de muestras de hasta 25 mm de diámetro

Eficacia mejorada en la preparación de muestras mediante TEM con la producción de amplias zonas transparentes de electrones para el análisis de TEM

Conexión LAN para el control y la supervisión a distancia

Seguro

Fuente de iones motorizada y desplazamiento de la muestra totalmente controlados por el programa para obtener resultados reproducibles.

Muestras naturales

Refrigeración de la platina de la muestra con LN2 para conservar la integridad de las muestras sensibles a la temperatura

Funcionamiento sencillo

Biblioteca de aplicaciones integradas

Archivos de ayuda y tutoriales en video integrados para principiantes y para el mantenimiento