Cortadora en plano inclinado de haz de iones Leica EM TIC 3X

Lograr cortes transversales de alta calidad de casi todos los materiales, revelar las estructuras internas de la muestra casi sin deformación o daño nunca antes fue más conveniente que ahora, con Leica EM TIC 3X.

El sistema de fresado de triple haz de iones Leica EM TIC 3X permite producir cortes transversales de materiales duros, blandos, porosos, termosensibles, quebradizos y heterogéneos para procesos de microscopía electrónica de barrido (SEM), análisis de microestructuras (espectroscopía por dispersión de energía [EDS], por longitud de onda [WDS], de electrón Auger y de difracción de electrones retrodispersados [EBSD]) e investigaciones de AFM.

Los tres haces de iones controlados individualmente, la platina giratoria, la platina de refrigeración y la platina multimuestra garantizan el fresado a alta velocidad y producen un corte amplio y profundo en la muestra, con el que se obtienen cortes transversales de gran calidad.

La conectividad con el sistema de transferencia de Leica proporciona una preparación de superficie criogénica perfecta de muestras biológicas, geológicas e industriales posteriormente transferidas en condiciones de criogenia y vacío a recubridores y (crio) SEM.

Solo para investigaciones
Leica EM TIC 3X: cortadora de haz de iones en plano inclinado

Sus ventajas

Rendimiento de primera

El exclusivo sistema de haz de iones triple optimiza la calidad de la sección transversal y reduce el tiempo de trabajo gracias a su capacidad de realizar cortes amplios y profundos a grandes velocidades. En una sesión, se pueden procesar hasta un máximo de tres muestras. Esto hace que Leica EM TIC 3X sea un instrumento perfecto para laboratorios de alto rendimiento.

Portamuestras

La opción de diferentes portamuestras para prácticamente todos los tamaños de muestras garantiza la mejor flexibilidad posible para los usuarios.

Consulte los portamuestras

Sistema configurable

De acuerdo con las necesidades de preparación, Leica EM TIC 3X se puede configurar de manera individual con platinas intercambiables: estándar, multimuestra, giratoria, de refrigeración o estación de acople VCT.

Consulte las platinas

 

 

Visualización clara de la topografía superficial

Además de realizar cortes transversales, se puede utilizar el mismo soporte para tareas de limpieza y mejora del contraste.

Platina de enfriamiento

Para preparar el procesamiento a baja temperatura y de alta calidad de muestras termosensibles como el caucho y las fibras poliméricas solubles en agua, se debe enfriar el portamuestras y la máscara hasta -150 °C.

Puerto acople de transferencia en vacío

El puerto de acople VCT junto con Leica EM TIC3X brinda un flujo de trabajo perfecto para preparar las superficies de las muestras sensibles al entorno que se pueden transferir con posterioridad a los sistemas de recubrimiento o SEM en condiciones de vacío o gas inerte

Más información

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(se obtuvieron cortes transversales de SEM com Leica EM TIC3X/VCT)