Sistema de preparación de la superficie de blancos Leica EM TXP

El sistema Leica EM TXP es un dispositivo de preparación de blancos para fresar, aserrar, triturar y pulir muestras antes de realizar un examen mediante técnicas de SEM, TEM y LM.

El microscopio estereoscópico integrado permite localizar y preparar de forma sencilla blancos apenas visibles. Con el brazo de pivote para muestras, es posible observar directamente la muestra en un ángulo entre 0° y 60° o de 90° con respecto a la cara frontal para determinar la distancia con una retícula ocular.

For research use only
Sistema Leica EM TXP para preparación de blancos

Sus ventajas

Control automático e integrado de procesos

El control de procesos con mecanismo de guía E-W automático, el control de introducción de fuerza ajustable y la función de cuenta atrás ahorran al usuario la larga tarea de preparación rutinaria de muestras.

Examen del resultado y del acabado de la muestra

El examen del resultado y del acabo de la muestra con el microscopio estereoscópico integrado hace que el usuario gane eficacia al no tener que transferir la muestra para la valoración a distancia y de la superficie.

Variedad de herramientas para insertar

Variedad de herramientas para insertar

La amplia gama de herramientas permite fresar, cortar, perforar, moler y pulir la muestra sin tener que sacarla del instrumento. Gracias a que se puede observar el proceso a través del microscopio estereoscópico, se ahorra tiempo y dinero.