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Inspection d'échantillons multicouches - flux de travail du contrôle de qualité

Une nouvelle approche permettant de générer un flux de travail à la fois efficace, rapide et précis dans le contrôle qualité de revêtements multicouches sur des échantillons en métal et en plastique, comme c'est le cas dans les tâches de routine quotidienne dans l'industrie automobile ou micro-électronique, nécessite un flux de travail chronophage intégrant de nombreuses étapes et machines différentes.

Réunissant quatre technologies d'usinage en un seul instrument, le Leica EM TXP permet d'exécuter toutes les étapes d'usinage souhaitées.

Une nouvelle approche combinant le système de revêtement ciblé Leica EM TXP et le microscope optique Leica DM2700 M permet de raccourcir la procédure requise, d'harmoniser le flux de travail et de produire des résultats fiables et précis.

Préparation conventionnelle d'un échantillon : chronophage et complexe

Quand les revêtements de cuivre, de nickel ou de chrome appliqués sur des composants en métal ou en plastique sont préparés pour la microscopie épiscopique dans le cadre du contrôle de qualité industriel, l'échantillon est habituellement soumis à plusieurs processus jusqu'à ce que la couche ou la surface à analyser soit usinée avec précision. Généralement, une section transversale de l'échantillon est coupée, enrobée dans de la résine ; elle sera ensuite traitée et polie plusieurs fois afin d'inspecter ensuite l'épaisseur de chacune des couches. Ce processus dure environ quatre heures. Il est également possible de couper une section transversale de l'échantillon directement dans la surface présentant un défaut, puis de la polir plusieurs fois. Ce processus extrêmement compliqué dure plusieurs jours. Un laboratoire de contrôle de qualité travaillant avec des méthodes conventionnelles a besoin d'un établi entièrement équipé de plusieurs systèmes pour le fraisage, le sciage, l'ébarbage, le meulage et le polissage. En raison des procédures chronophages et complexes, un technicien ne traitera qu'un ou deux échantillons par jour, ce qui entraîne un faible rendement.

Quatre technologies d'usinage réunies dans un seul instrument

Réunissant quatre technologies d'usinage dans un seul instrument, le Leica EM TXP permet d'exécuter toutes les étapes d'usinage requises, depuis la coupe jusqu'au fraisage et au polissage, dans un seul système sans qu'il soit nécessaire de pré-enrober l'échantillon dans de la résine. Cela offre des avantages de taille pour le flux de travail comme pour la qualité des résultats.

Le fait de laisser l'échantillon à sa place permet de gagner du temps

Une fois l'échantillon serré dans le porte-échantillon et inséré dans le bras pivotant, l'échantillon peut être fraisé, scié, percé, rogné, meulé et poli sans qu'il soit nécessaire de le retirer du Leica EM TXP. Toutes les étapes du traitement sont exécutées consécutivement sur le Leica EM TXP. Puisqu'il est inutile de retirer l'échantillon afin de le placer sur d'autres machines, l'utilisateur gagne un temps précieux tout en évitant de perdre des détails de l'échantillon.

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The Leica DM2700 M materials microscope ideally complements the workflow.

Brass metal Ni/Ni/Cr coated. Semi-bright Ni, Bright Ni and Cr layer on the top. The sample was prepared using the Leica EM TXP. “It offers the flexibility to achieve high quality results in a short time”, says F.Javier Ruiz Balbas, Laboratory Manager at Atotech Spain. Photo: ATOTECH SPAIN

There is no need for time-consuming and costly embedding of the sample.