Systèmes de mesure sans contact - Métrologie de surface

La microscopie confocale et l'interférométrie sont réunies pour offrir une méthode de mesure à grande vitesse et haute résolution en métrologie de surface. Mesurez des matériaux jusqu'à 0,1 nm et obtenez des images confocales et en fond clair. Disponibles sous différentes configurations, les systèmes Leica de mesure sans contact sont spécifiquement conçus pour offrir une analyse rapide et non invasive des structures nano de diverses surfaces techniques.

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