Système de découpe ionique en Cross section Leica EM TIC3X

Grâce au Leica EM TIC 3X, obtenir des cross sections de haute qualité avec tous les matériaux, révélant les structures internes de l'échantillon sans déformation ni dommage, n'a jamais été aussi aisée.

Le système de découpe ionique triple canons Leica EM TIC 3X permet de réaliser des cross sections sur des matériaux durs/mous, poreux, sensibles à la chaleur, fragiles et hétérogènes pour le microscope électronique à balayage (MEB), pour la microanalyse (EDS, WDS, Auger, EBSD) et pour l’AFM.

Les trois faisceaux ioniques (contrôlés individuellement), la possibilité de montage d’une chambre cryo ou d'une chambre multi échantillons pour des cadences élevées de polissage, des découpes larges et profondes dans l’échantillon permettent d’obtenir des cross sections de très haute qualité.

For research use only
Leica EM TIC 3X ‐ Coupe ionique en cross section

Vos avantages

Performance de pointe

Notre système unique à faisceau ionique triple optimise la qualité des cross sections et réduit le temps de travail en améliorant la largeur et la profondeur des surfaces polies à des cadences élevées. Chambre multi-échantillons : jusqu'à trois échantillons peuvent être traités en une session. Cela fait du Leica EM TIC 3X  un instrument idéal pour les laboratoires qui recherche une performance et une cadence élevée.

Support-échantillons

Divers support-échantillons pour toutes les tailles d'échantillon

Système configurable

Selon vos besoins de préparations, configurez le Leica EM TIC 3X en échangeant la platine en quelques secondes : platine standard, platine multi échantillons ou platine refroidie.

Visualisation claire de la topographie de surface

En plus de la cross section, le support-échantillon est utilisable pour le nettoyage et le dopage du contraste.

Platine cryo

Polissage de très haute qualité à basse température pour les échantillons sensibles à la chaleur, par exemple les fibres de polymère solubles dans l'eau ou le caoutchouc qui peuvent être préparées en refroidissant le porte-échantillons et le masque jusqu’à -150 °C.