1: Section transversale du papier abrasif SiC l 2 : Section transversale de placage l 3 : Fibre polymère coaxiale (soluble dans l'eau) préparée à -120°C l 4 : Schiste bitumineux (nanopores), révélé par le Leica EM TIC 3X (platine rotative) taille totale de l'échantillon Ø 25 mm

Des résultats reproductibles

Le système de polissage à triple faisceau ionique, Leica EM TIC 3X, permet la production de sections transversales et de surfaces polies pour la microscopie électronique à balayage (MEB), l'analyse de microstructures (EDS, WDS, Auger, EBSD) et les examens AFM.

Avec le Leica EM TIX 3X, vous obtenez des surfaces de haute qualité de presque tous les matériaux en température ambiante ou en cryo, ce qui vous permet de révéler les structures internes de l'échantillon dont l'état est aussi natif que possible.

Jamais un système n'a été aussi pratique !

Efficacité

L'efficacité du système de polissage ionique se traduit par des résultats d'excellente qualité et un rendement élevé. Parce que la multiplication par 2 du taux d'usinage par rapport à la version précédente ne nous suffisait pas, le système à triple faisceau ionique optimise également la qualité de la préparation tout en réduisant le temps de travail. Il est possible de traiter jusqu'à trois échantillons par cycle. La coupe transversale et le polissage peuvent être exécutés avec une platine.

Les solutions de flux de production livrent un transfert d'échantillons sûr et efficace aux instruments de préparation ou systèmes d'analyse utilisés ultérieurement.

Système flexible – s'adapte à vos besoins à tout moment

Le choix flexible des platines fait du Leica EM TIC 3X un instrument idéal du point de vue du rendement élevé et convient parfaitement aux laboratoires liés par contrat.

Selon vos besoins, le Leica EM TIC 3X peut être configuré individuellement au moyen de platines interchangeables

  • Platine standard
  • Platine d'échantillons multiples
  • Platine rotative
  • Platine réfrigérante ou
  • Station d'accueil pour transfert cryogénique sous vide (VCT)

pour les applications de préparation standard, les processus à haut rendement, ainsi que la préparation d'échantillons extrêmement sensibles à la chaleur tels que les polymères, le caoutchouc ou les matériaux biologiques à faibles températures.

Solution du flux de production à environnement contrôlé

Le port d'accueil VCT associé au Leica EM TIC 3X offre le flux de production parfait pour le polissage des surfaces d'échantillons cryogéniques et/ou sensibles à l'environnement qui peuvent être 

  • biologiques, 
  • géologiques 
  • ou des matériaux industriels.

Ils peuvent ensuite être transférés à nos systèmes de métallisation EM ACE600 ou EM ACE900 et/ou aux systèmes SEM utilisés dans des conditions de gaz inerte/sous vide/cryogéniques. 

Solution de flux de production standard - créez des synergies avec le Leica EM TXP

Avant d'utiliser le Leica EM TIC 3X, la préparation mécanique est souvent nécessaire pour se rapprocher autant que possible de la zone d'intérêt. Le Leica EM TXP est un système de surfaçage cible unique développé pour la coupe et le polissage d'échantillons avant d'appliquer des techniques de suivi avec des instruments, tels que le Leica EM TIC 3X.

Le Leica EM TXP est spécialement conçu pour la préparation initiale des échantillons par sciage, fraisage, rectification et polissage. Il fait la différence dans le cadre du traitement d'échantillons complexes où l'identification et la préparation de cibles difficiles deviennent un véritable jeu d'enfant.