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Leica EM TIC020 Ion Beam Milling

Système de polissage ionique en cross section, triple canon Leica EM TIC020

Produit archivé
Remplacé par Leica EM TIC 3X

En août 2011, le nouveau système de polissage Leica EM TIC 3X a été lancé ; il remplace le Leica EM TIC020 !

Le Leica EM TIC020, destiné à la préparation d'échantillons de coupe, permet une préparation précise et efficace d'échantillons spécifiques pour l'analyse MEB.

Obtenir des coupes transversales de haute qualité à partir de presque tout matériau. Supports à échantillons permettant une taille d'échantillon allant jusqu'à 50 x 50 x 10 mm. Une préparation mécanique minime est requise. Le système dispose de trois faisceaux ioniques dotés de trois axes et d'un microscope d'examen.

For research use only
La fraise à faisceau ionique triple Leica TIC020

Nouveau modèle

Leica EM TIC 3X
Leica EM TIC 3X Système de polissage à faisceau ionique