Séchage au point critique

Le séchage au point critique est une méthode qui sèche efficacement les échantillons délicats pour les applications de microscopie électronique à balayage. Elle préserve la structure de la surface d'un échantillon qui sinon, pourrait être endommagée par la tension exercée à la surface lors du passage de l'état liquide à l'état gazeux. Au cours d'un processus entièrement automatisé et contrôlé, le point critique Leica EM CPD300 sèche les échantillons biologiques tels que le pollen, les tissus biologiques, les plantes, les insectes, ainsi que les échantillons industriels, tels que les systèmes micro-électromécaniques (MEMS), les micro-fluides et micro-gels. De cycle en cycle, vous pouvez toujours compter sur la qualité haute et invariable des échantillons.

Un processus entièrement automatisé et contrôlé !

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