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Ispezione di rivestimenti multistrato nell'industria dell'automotive

Intervista a F. Javier Ruiz Balbas, Direttore di laboratorio alla Atotech (Spagna)

Rivestimenti in nichel semi-lucido e lucido sopra uno strato in rame su plastica ABS. Foto: Atotech Spagna

Oggi giorno l'industria dell'automotive utilizza diversi trattamenti decorativi e funzionali, volti a migliorare la superficie dei veicoli. I metodi tradizionali di controllo qualità, utilizzati per ispezionare tali campioni multistrato, si sono rivelati impegnativi in termini di tempo, col rischio di sorvolare su alcuni difetti.

Il nuovo approccio che unisce un sistema di trattamento superficiale del campione  a un microscopio ottico offre nuove possibilità in termini di velocità e di affidabilità.

F. Javier Ruiz Balbas, Direttore di laboratorio alla Atotech (Spagna) ci racconta la sua esperienza con questo nuovo sistema.

Atotech è una delle aziende leader a livello mondiale nella fornitura di prodotti chimici speciali, dotazioni, servizi e soluzioni per circuiti stampati, packaging all'avanguardia e produzione di semiconduttori, nonché rifinitura decorativa e funzionale delle superfici.

F. Javier Ruiz Balbas, Direttore del laboratorio presso la Atotech Spagna

Ci descrive brevemente come lavora il suo reparto di Controllo qualità e quali sono le attività di cui si occupa? Quali difetti state verificando? Che tipo di rivestimento state testando?

Ruiz Balbas: Il nostro lavoro alla Atotech Spagna consiste essenzialmente nel ricevere componenti sui quali è stato rilevato un difetto; .esso viene sottoposto a un'analisi di sequenza tramite preparazione metallografica, ovvero taglio e lucidatura, onde poter eseguire le ispezioni successive. Una volta ottenuta l'adeguata preparazione del campione, passiamo a effettuare l'ispezione tramite microscopio ottico ed elettronico a scansione. Il nostro lavoro consiste generalmente nell'eseguire esami metallografici e misurazioni focalizzate sui difetti superficiali causati da depositi metallici, come rame, nichel, cromo, zinco, oro, ecc.

Quali sfide in particolare state affrontando? 

Ruiz Balbas: Il compito più difficile riguarda l'acquisizione del maggior numero di informazioni sul difetto, nel più breve tempo possibile.

Ottone rivestito Ni/Ni/Cr. Strato di Ni semi-lucido, Ni lucido e Cr sulla parte superiore. Il campione è stato preparato utilizzando il Leica EM TXP. Foto: Atotech Spagna

Come sono cambiate le esigenze del Controllo qualità nell'industria dell'automotive in seguito allo sviluppo di nuovi materiali? 

Ruiz Balbas: Sostenibilità è il must in tutti i settori dell'industria dell'automotive. Ciò significa che dobbiamo trattare prodotti non-CMR (Cancerogeno, Mutageno, tossico per la Riproduzione) con proprietà fisico-chimiche più elevate e allo stesso tempo ridurre ancora di più la CO2. Nel complesso ciò ha spinto negli ultimi 10 anni Atotech a investire il 10% del nostro fatturato annuo nella R&S e nelle Scienze dei materiali,diventando così il miglior partner per il trattamento delle superfici nell'industria dell'automotive. 

Come può il Controllo qualità della sua azienda fare la differenza?

Ruiz Balbas: Noi facciamo la differenza con la nostra lunga esperienza nell'utilizzo di tecniche metallografiche. 

Com'era il vostro lavoro prima di optare per il sistema Leica EM TXP/DM2700 M? Quali erano i punti deboli?

Ruiz Balbas: L'utilizzo di metodi tradizionali per la preparazione del campione rende difficile l'individuazione dei difetti e dei dettagli più piccoli. In molti casi le operazioni eseguite dall'uomo, come la manipolazione e la preparazione del campione sono soggette a variazioni nella rifinitura o, in alcuni casi, all'inclinazione del campione stesso nei processi di abrasione e lucidatura. Inoltre risulta necessario utilizzare ulteriori materiali di supporto per la manipolazione del campione, come per l'incapsulamento nella resina. 

Il sistema di preparazione  superficiale del campione  Leica EM TXP ci consente di progredire nel taglio e nella lucidatura del materiale, attraverso una sequenza ben precisa di passaggi. Riusciamo inoltre a indicare il numero di micron che vogliamo asportare dal campione . Possiamo selezionare i passaggi controllati di taglio e  di lucidatura, rimuovendo da 0,5 a 100 micron. Prima non riuscivamo a visualizzare tutta la superficie e il livello esatto della sezione trasversale sul profilo difettoso. 

Adesso, con l'implementazione del Leica EM TXP/DM2700 M, ciò è possibile sin dalla parte iniziale della sezione trasversale e durante la sua preparazione, fino al suo completamento, grazie allo stereomicroscopio integrato che consente di osservare il campione da diverse angolazioni. 

Quali sono le sue conclusioni generali sul Leica EM TXP/DM2700 M dopo aver acquisito un po' di esperienza nelle attività di routine quotidiana? Quali vantaggi del sistema supportano di più il vostro processo di Controllo qualità?

Ruiz Balbas: Il sistema garantisce flessibilità e dà la possibilità di raggiungere ottimi risultati, in breve tempo. Inoltre assicura che il metodo di preparazione del campione è coerente e ripetibile e che quindi l'analisi è corretta.

 

Testare la qualità preparazione del campione Leica con il proprio campione

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