Fresa per taglio inclinato a fascio ionico Leica EM TIC 3X

Ottenere sezioni trasversali di elevata qualità di quasi ogni materiale, rivelare le strutture interne del campione praticamente senza deformazioni o danni non è mai stato così comodo grazie al dispositivo Leica EM TIC 3X.

La fresa a triplo fascio ionico, Leica EM TIC 3X consente la produzione di sezioni trasversali di materiali duri/morbidi, porosi, sensibili al calore, fragili ed eterogenei per la microscopia elettronica a scansione (SEM), l'analisi microstrutturale (EDS, WDS, Auger, EBSD) e l'esame AFM.

Tre fasci ionici (controllati singolarmente), il tavolino di raffreddamento e il tavolino per campioni multipli garantiscono la fresatura alle più elevate velocità, un taglio ampio e profondo nel campione, con conseguenti sezioni trasversali di elevata qualità.

For research use only
Leica EM TIC 3X ‐ Ion Beam Slope Cutter

Vantaggi

Top-rate Performance

Unique Triple Ion Beam System optimizes the cross-section quality and reduces working time with its ability to cut broad and deep at high speeds. Up to three samples can be processed in one session. This makes the Leica EM TIC 3X  a  perfect instrument for high through-put laboratories.

Sample Holders

Various sample holders for almost every sample size

Configurable System

Depending on your preparation needs the Leica EM TIC 3X can be configured individually by using interchangeable stages - Standard stage, Multiple sample stage or Cooling stage

Clear Visualization of the Surface Topography

In addition to slope cutting, the same holder can be used for cleaning and contrast enhancement.

Cooling Stage

High quality, low temperature processing of heat sensitive samples such as rubber and water-soluble polymer fibers can be prepared by cooling down  the sample holder and mask to -150° C.