Sistema per il trattamento superficiale del target Leica EM TXP

Il dispositivo di preparazione del target Leica EM TXP serve per la fresatura, il taglio, la polverizzazione e la lucidatura dei campioni prima dell'esame mediante microscopio elettronico a trasmissione (TEM) e microscopio elettronico a scansione (SEM), nonché mediante le tecniche di microscopia ottica (LM).

Uno stereomicroscopio integrato consente la localizzazione e la preparazione con facilità di target appena visibili; con il braccio rotante, il campione può essere osservato direttamente a un angolo compreso tra 0° e 60°, o 90° relativamente alla faccia anteriore, per determinare la distanza con un reticolo oculare.

For research use only
Dispositivo per il trattamento superficiale del target Leica EM TXP

Vantaggi

Integrated automatic process control

Integrated process control with automatic E-W guiding mechanism, force-regulated feed control and countdown function saves the user from time-consuming routine sample preparation.

Surface finish and target examination

Surface finish and target examination with the integrated stereomicroscope means that the user does not have to transfer the sample for distance estimation and surface evaluation, which increases user efficiency.

Variety of tool inserts

Variety of tool inserts

Variety of tool inserts allows the specimen to be milled, sawed, drilled, ground and polished without sample removal from the instrument. The ability to observe the process through the stereomicroscope results in time and cost savings.