Lo stativo modulare consente l'ispezione di campioni di grandi dimensioni con elevati ingrandimenti stereoscopici Leica XL Stand

La soluzione modulare con stativo Leica XL consente l'ispezione di campioni di grandi dimensioni ad elevati ingrandimenti stereoscopici per applicazioni come osservazioni di schede a circuiti stampati, ispezione di impronte lasciate da strumenti forensi, esame della documentazione e ispezione TFT/LCD.

Il tavolino XY (opzionale) dispone di uno speciale sottopiatto ESD con elemento di fissaggio a scatto, che, quando combinato con la base di grandi dimensioni, blocca il sistema per evitare danni ESD a componenti elettronici sensibili. Il tavolino XY (opzionale) supporta campioni di grandi dimensioni fino a 400 X 450 mm e le posizioni del tavolino di 300 X 300 mm sono in grado di consentire l'analisi di campioni fino a 12" X 12". In questo modo, è possibile ispezionare documenti di dimensioni fino ad A4 in una volta, senza doverli riposizionare.

Il tavolino XY (opzionale) e la base universale bloccano il sistema per ridurre i danni ai componenti elettronici sensibili.

Vantaggi

Supporta campioni di grandi dimensioni

L'estensione XL supporta campioni di grandi dimensioni fino a 360 mm di profondità.

Spostamento dei campioni di grandi dimensioni

Il tavolino XY opzionale, dotato di range di spostamento di 300 x 300 mm, consente di spostare campioni di grandi dimensioni fino a 12" X 12", come schede a circuiti stampati.

Componenti elettronici sensibili

La base universale con 2 connettori mette a terra il sottopiatto ESD al fine di minimizzare i danni ESD ai componenti elettronici sensibili.

Regolazione fine

Tavolino XY opzionale: la regolazione fine migliora la manipolazione ad elevati ingrandimenti grazie ad una maggiore accuratezza.