時間を節約

ライカ DVM6 デジタルマイクロスコープは、電子・半導体、マイクロエレクトロニクス産業において品質検査や解析業務のワークフローを改善。作業時間を短縮します。

  • 基板をステージにおいてすぐ、高精細に観察でき、欠陥の原因をスピーディに特定できます 
  • 全体像から細部の観察まで、カメラ調整やピント再調整などなく、ストレスのない観察
  • インテリジェントなソフトウェアであらゆる操作もワンクリックで実行可能

サイエンスラボのコラムでは、デジタルマイクロスコープを使ったプリント基板の検査および解析を紹介しています。

低倍から高倍までシームレスな観察

2 つの方法で倍率変更可能です:ズームを調節、あるいは対物レンズを交換する

ズームレンズは16:1 の高ズーム比でダイナミックな観察: ズーム本体には、16:1 の高ズームレンズを内蔵。1本の対物レンズでもマクロからミクロまで広い倍率レンジをカバーします。利点:対物レンズの交換頻度が減ることで作業時間を短縮できます。

選択可能な3本の対物レンズラインナップ。ワンハンドで交換可能:ライカ DVM6は3種類の対物レンズをラインナップ。 12×~2350×のモニター観察をカバー。対物レンズは片手操作で作業中断することなく、交換できます。対物レンズを交換しても追加の調整は不要で、ユーザーは対物レンズをスピーディに交換し、作業を続行することができます。

ウェハ観察事例:
同軸照明、同軸照明(斜照明)とリングライト併用 (1 列目: 左から右)全体像観察。同軸照明、同軸照明(斜照明)(2 列目: 左から右)

わずかな欠陥も見逃さない

高精細画像で、詳細な細部をとらえ、わずかな欠陥や傷もスピーディに見出すことができます。

  • すぐれた光学系:ライカ DVM6 の対物レンズはアポクロマート補正により、どの倍率でもクリアで色再現性にすぐれたイメージングを可能にします。
  • モニターを見ながら傾斜可能: 顕微鏡ヘッドは片手でグリップを握るだけの簡単・快適操作で、傾斜できます。ビデオ:スタンド傾斜操作事例
  • 最適な照明が簡単に見つかる照明モード:顕微鏡観察において照明法の選定は非常に重要です。分割照明可能なリング照明と同軸照明の組み合わせで、より詳細に観察することができます。

パワフルなソフトウェア

Leica Applications Suite (LAS) X ソフトウェアにより、スピーディに信頼性の高い、再現性ある結果が得られます。複雑な操作もクリック操作で行えます。

  • 顕微鏡・カメラ条件の呼び出し:ワンクリックで、以前に撮影した画像から設定を呼び出すことができます。設定の呼び出しにより、同じ条件で迅速・簡単に観察・撮影ができます。
  • 直観的なデザイン:LAS X ソフトウェアは、直観的に使用できるように設計されており、誰でも高精細な観察で、同じ結果を得ることができます。

プリント基板の検査および解析事例

PCB全体像観察:スタンド傾斜 5°、ステージ回転 20°で観察。ライブ像上で観察条件を数値で表示

PCB全体像観察LAS X 画面:スタンド傾斜 5°、ステージ回転 20°で観察。ライブ像上で観察条件を数値で表示