시료를 Thin, Clean, polish, cut slopes 및 Structure하는데 최적화되어 있으며, 하나의 Bench-top 장비에 TEM, SEM 및 LM 시료 정처리 기능이 결함된 유일한 이온밀링 시스템 입니다.

여러 샘플 홀더를 사용하여 각종 다양한 애플리케이션이 수행 될 수있으며, 고 에너지 뿐만 아니라 낮은 에너지를 이용하여 매우 완만한 시료 전처리에도 사용 할 수 있습니다.

Only research 용

Leica EM RES102 Ion beam milling system

특징 및 장점

Effective and Cost efficient

  • Effective and Cost efficient
  • TEM, SEM 및 LM 시료의 전처리가 하나로 결합된 시스템
  • 최대 지름 25mm의 SEM 샘플 전처리 가능
  • TEM 분석을 위한 대형 전자 투명 영역의 생산과 TEM 샘플 준비 개선 효과
  • 원격 제어 및 모니터링을 위한 LAN 기능

Safe

이온 소스 및 샘플 이동을 프로그램으로 제어함으로써 재현성 있는 결과 제공

Native specimens

온도에 민감한 샘플 보존을 위한 LN2 시료 stage 장착 가능

Easy operation

  • 통합 애플리케이션 라이브러리
  • 초보자 및 유지 보수를 위한 통합 사용 지침 동영상 및 helpfile 내장