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Leica EM TIC020 Ion Beam Milling

경사절삭 준비를 위한 Triple Ion Beam Miller Leica EM TIC020

보관된제품
교체된제품 Leica EM TIC 3X

경사절삭(slope cuts) 준비용 Leica EM TIC020 Triple Ion Beam MillerSEM 분석을 위한 정확하고 효율적인 장소특이적 시료 전처리(site specific sample preparation)를 가능하게 합니다.

거의 모든 물질로부터 고품질 횡절편을 얻을 수 있습니다. 시료크기가 최대 50x50x10 mm까지 가능한 시료 홀더. 최소의 기계식 전처리가 필요합니다. 이 시스템은 3축 재물대가 있는 3이온빔과 관찰 현미경을 특징으로 합니다. 

For research use only
경사절삭 준비를 위한 Triple Ion Beam Miller Leica TIC020

새로운 모델

Leica EM TIC 3X
Leica EM TIC 3X 이온 빔 슬로프 커터(Ion Beam Slope Cutter)