O suporte modular permite a inspeção de amostras grandes em altas ampliações estereoscópicas Suporte Leica XL

O suporte Leica XL, uma solução modular , permite a inspeção de amostras grandes em altas ampliações estereoscópicas para aplicações como inspeção de placas de circuito impresso, marcas de ferramentas forenses ou exame de documentação e inspeção de TFT/LCD.

A platina XY (opcional) possui um acabamento ESD especial com encaixe rápido que, quando combinada com a placa base grande, aterra o sistema para evitar danos por descarga eletrostática a componentes eletrônicos sensíveis. A platina XY (opcional) oferece suporte para amostras de até 400 X 450 mm, e as platinas com percurso de 300 x 300 mm acomodam amostras de até 12" x 12", para possibilitar a inspeção de documentos até A4 de uma vez, sem reposicionamento.

A platina XY (opcional) e a placa base universal aterram o sistema para reduzir danos a componentes eletrônicos sensíveis.

Suas vantagens

Compatível com amostras grandes

Extensão extra grande – compatível com amostras grandes de até 360 mm de profundidade.

Movimentação de amostras grandes

A platina XY opcional fornece um de percurso de 300 x 300 mm – permite a movimentação de amostras grandes de até 12"x 12", como placas de circuito impresso.

Componentes eletrônicos sensíveis

Placa base universal com dois conectores – esteira de aterramento ESD para minimizar danos por descarga eletrostática aos componentes eletrônicos sensíveis.

Ajuste fino

Platina XY opcional: ajuste fino – melhora o manuseio em altas ampliações devido à maior precisão.