Sistemas de medição sem contato – Metrologia de superfície

Combinação de confocal e interferometria para medições de alta velocidade e alta resolução para metrologia de superfície. Meça materiais de até 0,1 nm enquanto obtém tanto imagens confocais como de campo claro. Disponíveis em várias configurações, os sistemas de medição sem contato da Leica foram especificamente projetados para oferecer análise rápida e não invasiva de micro e nanoestruturas para as mais variadas superfícies técnicas.