Afine, limpe, dê polimento, faça cortes oblíquos e estruture as amostras com o mais alto nível de flexibilidade no Leica EM RES102. O exclusivo sistema de pulverização por feixe de íons combina a preparação de amostras de TEM, SEM e LM em uma única bancada. <nl />

Uma variedade de porta-amostras possibilita a realização de uma ampla diversidade de aplicações. Além da pulverização por feixe de íons de alta energia, o Leica EM RES102 também pode ser usado para o processamento muito delicado de amostras usando baixa energia de íons.<nl />

Para uso exclusivo em pesquisas

For research use only
Sistema de pulverização por feixe de íons Leica EM RES102

Suas vantagens

Eficaz e econômico

Um sistema para aplicações de TEM, SEM e LM

Preparação de amostras para SEM com diâmetro de até 25 mm

Melhoria da eficácia na preparação de amostras de TEM com a produção de grandes áreas eletrônicas transparentes para análise de microscopia eletrônica de transferência

Recurso de LAN para controle e monitoramento remoto

Seguro

Movimentações da amostra e fonte de íons totalmente motorizada e controlada por programa para resultados reprodutíveis

Espécimes nativos

Resfriamento da platina de amostras por LN2 para manter a integridade de amostras sensíveis à temperatura

Fácil operação

Biblioteca de aplicações integrada

Arquivos de ajuda e tutoriais em vídeo integrados para iniciantes e manutenção