1: Corte transversal de papel abrasivo SiC l 2: Corte transversal do folheado l 3: Fibra polimérica coaxial (solúvel em água) preparada a -120 ° C l 4: Xisto de óleo (nano poros), revelado com o Leica EM TIC 3X (estágio rotativo) tamanho total de amostra de Ø 25 mm

Resultados reprodutíveis

O sistema de fresamento de feixes de triplo íon (Triple Ion Beam Milling System), Leica EM TIC 3X permite a produção de cortes transversais e planos para Scanning Electron Microscopy (microscopia de elétrons de varredura) (SEM), Microstructure Analysis (análise de microestrutura; EDS, WDS, Auger, EBSD) e investigações AFM.

Com o Leica EM TIX 3X você obtém superfícies de alta qualidade em quase todos os materiais a temperatura ambiente ou crio, revelando as estruturas internas da amostra em um estado mais próximo possível do nativo.

Maior conveniência!

Eficiência

O que realmente conta com relação à eficiência de um fresador de feixe de íons são os resultados de excelente qualidade, com alta taxa de transferência. Não é suficiente a possibilidade de aumentar a taxa de fresamento a um fator de 2 em comparação com a versão anterior, mas o exclusivo sistema de feixe de íons triplos otimiza a qualidade do preparo e reduz o tempo de trabalho. Até três amostras podem ser processadas em uma sessão. O corte transversal e polimento pode ser realizado por uma fase.

As soluções de fluxo de trabalho fornecem transferência segura e eficiente de amostras para instrumentos de preparação ou sistemas de análise subsequentes.

Sistema flexível - Adaptável às suas necessidades a qualquer momento

A escolha flexível dos estágios torna o Leica EM TIC 3X um instrumento perfeito não apenas para laboratórios de alto rendimento, mas também para laboratórios de contrato.

Dependendo da sua necessidade, o Leica EM TIC 3X pode ser configurado individualmente, utilizando os estágios intercambiáveis

  • Estágio padrão
  • Estágio de amostras múltiplas
  • Estágio rotativo
  • Estágio de arrefecimento
  • Estação de ancoragem de transferência crio a vácuo

para aplicações de preparação padrão, processamento de alto rendimento, bem como para a preparação de amostras extremamente sensíveis ao calor, tais como polímeros, borrachas ou materiais biológicos a baixas temperaturas.

Solução de fluxo de trabalho ambientalmente controlada

O pórtico de ancoragem VCT em conjunto com o EM TIC 3X oferece o fluxo de trabalho perfeito para revestimento de amostras criogênicas e/ou sensíveis ao ambiente que podem ser 

  • materiais biológicos, 
  • geológicos 
  • ou industriais.

Podem ser posteriormente transferidos para nossos sistemas de revestimento EM ACE600 ou EM ACE900 e/ou sistemas SEM sob condições de gás inerte/vácuo/crio.

Solução de fluxo de trabalho padrão - Criar sinergias com o Leica EM TXP

Antes da utilização do Leica EM TIC 3X, a preparação mecânica é necessária com frequência para chegar o mais próximo possível da área de interesse. O Leica EM TXP é um exclusivo sistema de superfície desenvolvido para o corte e polimento de amostras antes de técnicas de acompanhamento, com instrumentos como o Leica EM TIC 3X.

O Leica EM TXP é especialmente desenvolvido para o pré-preparo de amostras através da serragem, moagem, trituração e polimento.  Ele se destaca com os espécimes mais complicados, facilitando a identificação e preparo de alvos difíceis.