English Japanese Chinese Korean 

Leica EM TRIM

Specimen trimmer

개요

Leica EM TRIM

Leica EM TRIM Trimmer은 TEM, SEM 및 광학현미경용 표본을 간편하고 빠르게 Trimming할 수 있는 장치로서, Tungsten Carbide milling tool 또는 Diamond milling tool을 이용하여 Block face을 절삭할 수 있으며 TEM용 Mesa(평평한) milling을 할 수 있습니다.

주요 특징

  • 사방 약 0.2mm이상의 정사각형 표본의 표면을 압축하거나 갈라짐이나 찢어짐 없이 절삭 가능
  • 면도날로 Trimming 하는 것보다 안전하고 빠름
  • 진공 클리너를 장착하면 유해물이나 Resin dust등으로부터 사용자 보호
  • 미세절편기에 사용하는 Specimen holder용 어댑터 제공