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光谱式荧光寿命成像

徕卡TCS SMD FLIM可配置光谱式FLIM检测器,其前端无需放置任何滤片,使实验设计更为灵活。

SMD FLIM实验向导让您可轻松选择FLIM检测范围,并进行FLIM光谱扫描

特征

  • 可根据样品的荧光性质,在全光谱波段自由选择FLIM检测范围
  • 附加信息可用于区分光谱重叠或寿命接近的多种染料
  • 最优化的FLIM-FRET实验
  • 通过自发荧光特性来识别代谢状态
  • 光谱式寿命指纹:识别特征性的寿命-波长模式