Elektronik- und Halbleiterindustrie
Suchen Sie nach Lösungen, die Ihnen dabei helfen, Ihre Leiterplatteninspektion, Qualitätskontrolle (QC), Elektronikfehleranalyse und Forschung & Entwicklung (F&E) effizienter und kostengünstiger durchzuführen? So können unsere Lösungen Sie unterstützen:
- Gerätehersteller: Sie können die neuesten Technologien und Geräte weiterentwickeln, um dem Wettbewerb immer einen Schritt voraus zu sein
- Zulieferer: Sie können leistungsstärkere Komponenten wie Leiterplatten und Mikroelektronik anbieten, und dies gleichzeitig zu weiterhin wettbewerbsfähigen Preisen
Elektronik- und Halbleiterindustrie
Filter by Area of Application

FLEXACAM C1
12 MP Stand-alone Mikroskopkamera - Bilder sekundenschnell erfassen, dokumentieren und teilen

S9 Serie
Greenough-Stereomikroskope S-Serie

Leica M125 C, M165 C, M205 C, M205 A
Kodierte Stereomikroskope

Leica DVM6
Digitalmikroskop

DM3 XL
Das Inspektionssystem für die Mikroelektronik- und Halbleiterbranche

M50, M60 & M80
Stereomikroskope für Routineaufgaben

A60 F & A60 S
Stereomikroskope für die industrielle Fertigung

Leica DM2700 M
Aufrechtes Materialmikroskop mit universeller LED-Beleuchtung

Leica DM8000 M
Inspektions- und Reviewsystem für höchsten Durchsatz -

Leica DM12000 M
Inspektions- und Reviewsystem für höchste Präzision -
Bildgebungslösungen für Elektronik und Halbleiter
Zuverlässige, intuitive Bildgebungslösungen von Leica Microsystems können dazu beitragen, die Geschwindigkeit und Genauigkeit Ihrer Inspektion und Qualitätskontrolle sowie Fehleranalyse und Nacharbeit zu verbessern. Unsere Bildgebungslösungen können zu einer effizienten und kostengünstigen Forschung und Entwicklung bei Geräten und Prozessen beitragen. In allen Fällen ist eine effiziente und präzise Dokumentation entscheidend.
Unser weltweites Expertennetzwerk unterstützt Sie gerne dabei, die Bildgebungslösungen zu finden, die Ihren Anforderungen optimal entsprechen.