Leiterplatten- und Elektronikfertigung

Ob Sie Gerätehersteller oder Zulieferer sind, Leica Microsystems bietet Ihnen Leiterplatteninspektionsmikroskope und Bildgebungslösungen, die Ihren Anforderungen entsprechen. Wir möchten Sie dabei unterstützen, eine schnelle und genaue Inspektion, Nacharbeit, Analyse und Montage für Ihre Aufgaben in der Leiterplatten- und Elektronikfertigung zu erreichen.

Um die Einhaltung der festgelegten Spezifikationen nachzuweisen, ist eine zuverlässige Dokumentation immer ein Muss. Möglicherweise benötigen Sie auch bildgebende Lösungen, die Sie bei der Entwicklung neuer Leiterplatten und Komponenten unterstützen können. Die Lösungen von Leica Microsystems können Sie dabei unterstützen, diese Anforderungen zu erfüllen.

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Effizientere Inspektion

Effizienz und Produktivität bei der Leiterplatteninspektion können verbessert werden, indem sich wiederholende Aufgaben wie häufige Anpassungen der Bildgebungseinstellungen oder Bewegungen der Leiterplatte reduziert werden.

Sie erreichen eine schnellere Inspektion mit bildgebenden Lösungen, die Ihnen einen größeren Überblick über die Leiterplatte ermöglichen. Zoomen Sie dann einfach auf einen Bereich von Interesse. Unsere Mikroskope für die Leiterplatteninspektion bieten diese Vorteile.

Die Unterseite der Platine zeigt die Steckerpins bei geringerer Vergrößerung (Bild links), gefolgt von einem Zoom in den rot markierten Bereich (Bild rechts). Verbogene Steckerstifte bei geringerer Vergrößerung, dann zoom-in zeigt mehr Details. — Links: Verbogene Verbindungsstifte bei geringerer Vergrößerung rechts: Vergrößern des durch das rote Kästchen markierten Bereichs zeigt weitere Details an

Stereomikroskop ohne FusionOptics

Mikroskope der S9-Serie mit FusionOptics

Bildsimulation mit einer Leiterplattenprobe ohne und mit Effekt von FusionOptics, wie beim Blick durch die Okulare wahrgenommen.

Weniger Bildeinstellungen während der Inspektion

Sie können Leiterplatten schneller mit einem Stereomikroskop inspizieren, das Bilder mit großer Tiefenschärfe und besserer Auflösung im Vergleich zu anderen herkömmlichen Stereomikroskopen liefert.

Anpassungen der Stereomikroskopoptik während der Leiterplatteninspektion können mit der FusionOptics-Technologie von Leica Microsystems minimiert werden.

Die FusionOptics-Technologie überwindet optische Einschränkungen, indem die beiden Strahlengänge des Stereomikroskops für verschiedene Aufgaben verwendet werden:

Der rechte Strahlengang liefert ein hochauflösendes Bild an der größtmöglichen numerischen Blendenöffnung
Der linke Strahlengang liefert ein Bild mit hoher Tiefenschärfe

Das Ergebnis: Sie nehmen ein Bild mit hoher Auflösung und gleichzeitig großer Tiefenschärfe wahr.

Schneller mehr Details sehen

Durch eine einfachere Visualisierung schwer abzubildender Leiterplattenkomponenten oder -bereiche können Sie eine schnelle und präzise Leiterplatteninspektion erreichen.

Lötstellen, Durchgangslöcher und Komponenten wirken sich alle kritisch auf die Leiterplattenleistung aus und müssen überprüft werden. Bildgebungslösungen von Leica können Ihnen helfen, dank vielseitiger Beleuchtung und leistungsstarker Optik eine schnellere Inspektion von Leiterplattenfunktionen und -komponenten zu erreichen. Beleuchtungsoptionen, die einen optimalen Kontrast bieten, bringen erhebliche Vorteile, da sie den dargestellten Detaillierungsgrad beeinflussen.

Leiterplatte mit Ringlicht (links) im Vergleich zu fast vertikaler Beleuchtung (rechts) Die roten Pfeile zeigen Merkmale an, die leichter zu erkennen sind, z. B. flache Oberflächen mit Ringlicht und Löchern sowie Aussparungen mit nahezu vertikaler Beleuchtung.

Sehen Sie den Unterschied mit hochwertiger Optik

Für eine effiziente Leiterplatteninspektion und Nachbearbeitung machen Hochleistungsoptiken, die verzerrungsfreie Bilder erzeugen, einen großen Unterschied. Leica Microsystems hat in seinen Bildgebungslösungen preisgekrönte Optiken entwickelt und produziert. Sie ermöglichen die Visualisierung von Leiterplatten mit optimalem Kontrast und optimaler Auflösung.

Unsere Optikdesigner und -ingenieure entwerfen Optiken, mit denen Sie Leiterplatten mit optimalem Kontrast und optimaler Auflösung sehen können. Weitere Details: Leica Objektive und Optik.

Schnelle Analyse und Dokumentation der Ergebnisse

Hersteller und Zulieferer in der Elektronikindustrie widmen sich der Inspektion und Qualitätskontrolle von Leiterplatten, um Abweichungen von den festgelegten Spezifikationen zu vermeiden.

Mit einem Inspektionsmikroskop mit Kamera sparen Sie Zeit bei der Inspektion und Dokumentation für die Leiterplattenproduktion und die Analyse von Elektronikfehlern. Die Lösungen von Leica bieten eine intuitive Bildgebungssoftware und codierte Mikroskopkomponenten.

Bei neuen Leiterplatten müssen Leistung und Produktion häufig optimiert werden. Eine große Datenbank mit dokumentierten Ergebnissen, auf die Bezug genommen werden kann, wird schnell von unschätzbarem Wert.

Links: 2D-Bild der Leiterplatte mit Messwerten wie Länge und Fläche – Rechts: 3D-Bild der gleichen Leiterplatte mit Linienprofilen und Höhenmessungen

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