Leiterplatteninspektion
Ob Sie ein Gerätehersteller oder Zulieferer sind, Leica Microsystems bietet Ihnen Inspektionsmikroskope für Leiterplatten, die Ihnen helfen, eine effiziente und präzise Leiterplatteninspektion für Qualitätskontrolle, Nacharbeit, Fehleranalyse und F&E zu erreichen.
Die Leistung einseitiger, doppelseitiger oder mehrlagiger Leiterplatten wird entscheidend durch Löten, Durchgangslöcher und Komponenten wie Dioden, IC-Chips und Kondensatoren beeinflusst, die alle überprüft werden müssen. Die Inspektion muss sich mit folgenden Fragen befassen: Sind die Stifte zu nah? Sind Ausrichtung und Polarität korrekt?
Um die Einhaltung der festgelegten Spezifikationen nachzuweisen, ist eine zuverlässige Dokumentation immer ein Muss. Möglicherweise benötigen Sie auch bildgebende Lösungen, die Sie bei der Entwicklung neuer Leiterplatten und Komponenten unterstützen können.
Bitte kontaktieren Sie uns, um sich von Leica Experten über unsere Mikroskoplösungen für Inspektionen von Leiterplatten beraten zu lassen.
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Herausforderungen bei der Leiterplatteninspektion
Herausforderungen bei der Leiterplatteninspektion
Lieferanten und Hersteller müssen Leiterplatten kostengünstig prüfen. Ihr oberstes Ziel ist die Sicherstellung und Optimierung der Produktleistung und -lebensdauer.
Herausforderungen, denen Sie bei der Inspektion begegnen, können zu Ineffizienz führen. Mit Ihrer derzeitigen Bildverarbeitungslösung können Sie möglicherweise nur schwer ein schnelles PCB-Screening auf Defekte und die Überprüfung von Spezifikationen durchführen: Sie können nicht schnell von der Beobachtung einer Übersicht zu feinen Details der Probe übergehen, relevante Details werden aufgrund schlechter Beleuchtung nicht erkannt und die Handhabung der Proben ist umständlich.
Wenn Sie darüber hinaus bestimmte Aufgaben an verschiedenen speziellen Arbeitsplätzen ausführen, wird der Inspektionsprozess durch den erforderlichen Transport von Proben und Notizen gestört. Wenn es große Unterschiede beim Kenntnisstand der Benutzer gibt und daher Zeit für Schulungen aufgewendet werden muss, dann erfordern aktuelle Bildgebungslösungen möglicherweise einen erheblichen Aufwand für Schulungen. Außerdem ist es schwierig, eine effiziente Inspektionen durchzuführen, wenn Sie unter Unbehagen und Belastung leiden, wie z. B. bei stundenlangen Inspektionen.
Effizientere Inspektion
Effizienz und Produktivität bei der Leiterplatteninspektion können verbessert werden, indem sich wiederholende Aufgaben wie häufige Anpassungen der Bildgebungseinstellungen oder Bewegungen der Leiterplatte reduziert werden.
Sie erreichen eine schnellere Inspektion mit bildgebenden Lösungen, die Ihnen einen größeren Überblick über die Leiterplatte ermöglichen. Zoomen Sie dann einfach auf einen Bereich von Interesse. Unsere Mikroskope für die Leiterplatteninspektion bieten diese Vorteile.
Bildsimulation mit einer Leiterplattenprobe ohne und mit Effekt von FusionOptics, wie beim Blick durch die Okulare wahrgenommen.
Schnelle Leiterplatteninspektion in 3D mit Stereobild
Wenn eine 3D-Perspektive für die Inspektion von Leiterplatten wichtig ist, ist ein Stereomikroskopbild erforderlich. Häufiges Nachstellen eines Stereomikroskops, z. B. die Neufokussierung und Änderung des Zoomfaktors zur Verbesserung der Auflösung und Tiefenschärfe, kann die Inspektion verlangsamen. Dieses Nachstellen kann mit der FusionOptics-Technologie minimiert werden. Während Sie durch die Okulare schauen, können Sie ein 3D-Stereobild mit hoher Auflösung und großer Tiefenschärfe sehen.
Die FusionOptics-Technologie überwindet optische Einschränkungen, indem die beiden Strahlengänge des Stereomikroskops für verschiedene Aufgaben verwendet werden: Ein Strahlengang liefert ein hochauflösendes Bild, der andere ein Bild mit hoher Tiefenschärfe.
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