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Das Wissensportal von Leica Microsystems bietet Ihnen Wissens- und Lehrmaterial zu den Themen der Mikroskopie. Die Inhalte sind so konzipiert, dass sie Einsteiger, erfahrene Praktiker und Wissenschaftler gleichermaßen bei ihrem alltäglichen Vorgehen und Experimenten unterstützen. Entdecken Sie interaktive Tutorials und Anwendungsberichte, erfahren Sie mehr über die Grundlagen der Mikroskopie und High-End-Technologien - werden Sie Teil der Science Lab Community und teilen Sie Ihr Wissen!
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Factors to Consider for a Cleanliness Analysis Solution
Choosing the right cleanliness analysis solution is important for optimal quality control. This article discusses the important factors that should be taken into account to find the solution that best…
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Cleanliness Analysis for Particulate Contamination
Devices, products, and their components fabricated in many industries can be quite sensitive to contamination and, as a result, have stringent requirements for technical cleanliness. Measurement…
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Effiziente Partikelzählung und -analyse
Dieser Bericht befasst sich mit der Partikelzählung und -analyse unter Verwendung der optischen Mikroskopie bei der technischen Sauberkeitsanalyse von Teilen und Komponenten. Die Partikelzählung und…
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Technische Sauberkeit von Automobilkomponenten und -teilen
In diesem Artikel werden die ISO-Norm 16232 und die VDA 19-Richtlinien erläutert und die Verfahren zur Partikelanalyse kurz zusammengefasst. Diese liefern wichtige Kriterien für die Sauberkeit von…
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Keeping Particulate Contamination Under Control in Pharmaceutical Products
This article describes how a 2-methods-in-1 solution combining optical microscopy and laser induced breakdown spectroscopy (LIBS) can be utilized for identification of particulate contaminants in the…
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Depth Profiling and Layer Analysis for Inspection of Materials with a 2-In-1 Solution Combining Optical Microscopy and Laser Spectroscopy
In addition to simultaneous visual and chemical inspection, a 2-methods-in-1 materials analysis solution, which combines optical microscopy and laser induced breakdown spectroscopy (LIBS), can also be…
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Performing Elemental Analysis down to the Micro Scale
If you work in electronic component analysis, you will be familiar with the many challenges posed. Whether you are identifying metallic particles or checking product authenticity, it’s important to…
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Introduction to Ion Beam Etching with the EM TIC 3X
In this article you can learn how to optimize the preparation quality of your samples by using the ion beam etching method with the EM TIC 3X ion beam milling machine. A short introduction of the…
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Visual and Chemical Analysis of Steel Microstructure: Faster Rating of Steel Quality
Simultaneous visual and chemical analysis of steel non-metallic inclusions with a 2-methods-in-1 solution, using optical microscopy and laser induced breakdown spectroscopy (LIBS), is described in…