Science Lab
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Structural and Chemical Analysis of IC-Chip Cross Sections
This article shows how electronic IC-chip cross sections can be efficiently and reliably prepared and then analyzed, both visually and chemically at the microscale, with the EM TXP and DM6 M LIBS…
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Schnelle und zuverlässige Untersuchung von Leiterplatten und Leiterplattenbaugruppen mittels Digitalmikroskopie
Digitalmikroskope bieten Anwendern eine bequeme und schnelle Möglichkeit zur Erfassung hochwertiger, zuverlässiger Bilddaten und zur schnellen Inspektion und Analyse von Leiterplatten (PCBs) und…
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Digital Inspection Microscope for Industrial Applications
Factors users should consider before choosing a digital inspection microscope for industrial applications, including quality control (QC), failure analysis (FA), and R&D, are described in this…
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Top Challenges for Visual Inspection
This article discusses the challenges encountered when performing visual inspection and rework using a microscope. Using the right type of microscope and optical setup is paramount in order to…