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Das Wissensportal von Leica Microsystems bietet Ihnen Wissens- und Lehrmaterial zu den Themen der Mikroskopie. Die Inhalte sind so konzipiert, dass sie Einsteiger, erfahrene Praktiker und Wissenschaftler gleichermaßen bei ihrem alltäglichen Vorgehen und Experimenten unterstützen. Entdecken Sie interaktive Tutorials und Anwendungsberichte, erfahren Sie mehr über die Grundlagen der Mikroskopie und High-End-Technologien - werden Sie Teil der Science Lab Community und teilen Sie Ihr Wissen!
Images of the same area of a processed wafer taken with standard (left) and oblique (right) brightfield illumination using a Leica compound microscope. The defect on the wafer surface is clearly more visible with oblique illumination.

Rapid Semiconductor Inspection with Microscope Contrast Methods

Semiconductor inspection for QC of materials like wafers can be challenging. Microscope solutions that offer several contrast methods enable fast and reliable defect detection and efficient workflows.
Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.

Structural and Chemical Analysis of IC-Chip Cross Sections

This article shows how electronic IC-chip cross sections can be efficiently and reliably prepared and then analyzed, both visually and chemically at the microscale, with the EM TXP and DM6 M LIBS…
Geringe Vergrößerung DVM6-Bild eines Teils der PCBA-Probe.

Schnelle und zuverlässige Untersuchung von Leiterplatten und Leiterplattenbaugruppen mittels Digitalmikroskopie

Digitalmikroskope bieten Anwendern eine bequeme und schnelle Möglichkeit zur Erfassung hochwertiger, zuverlässiger Bilddaten und zur schnellen Inspektion und Analyse von Leiterplatten (PCBs) und…
Wafer

How to Boost your Microelectronic Component Inspection Performance

Do you need to see more when inspecting silicon wafers or MEMS? Would you like to get sharp and detailed sample images which are similar to those from electron microscopes? Watch this free webinar…
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