Automobilindustrie: Schnelle und präzise Oberflächeninspektion bei schwer darzustellenden Proben

Einige dieser Teile bestehen aus Materialien, die mit optischen Instrumenten, wie einem Mikroskop, schwer zu analysieren sind. Beispielsweise erreicht man bei der Abbildung von Reifengummi oder Kunststoffteilen (hier eine Luftauslassblende) mit den üblichen Beleuchtungsverfahren nur einen geringen Kontrast, was das Erkennen von Fehlern schwierig bis unmöglich macht.

Im Folgenden wird gezeigt, wie das Digitalmikroskop Leica DVM6 Sie unterstützen kann, die Inspektion, Messung und Dokumentation Ihrer Bauteiluntersuchung zu beschleunigen und erleichtern.

Effizientere Arbeitsabläufe bei schwer darzustellenden Proben

Die Inspektion und Qualitätskontrolle von Bauteilen, wie beispielsweise Reifen und Luftauslassblenden zu beschleunigen, ist immer wünschenswert. Schnellere Verfahren müssen allerdings ebenso zuverlässige Ergebnisse liefern.

Moderne Digitalmikroskope wie das Leica DVM6 ermöglichen eine effiziente und zuverlässige Inspektion und Qualitätskontrolle. Das Leica DVM6 bietet:

  • Reproduzierbare Mikroskopie durch automatische Verfolgung und Speicherung der wichtigsten Hardwareparameter (Kodierung), z. B. für Objekttisch, Objektiv und Zoomoptik, Beleuchtung und Kameraeinstellungen, sodass Bildgebungsbedingungen schnell abgerufen werden können;
  • Schneller Vergrößerungswechsel durch fast nahtlos durchführbaren Objektivwechsel während des Arbeitsablaufs und der Verwendung des stufenlosen 16:1-Zooms;
  • Schnelles, einfaches Kippen und Drehen zur Betrachtung der Probe aus verschiedenen Blickwinkeln;
  • Integriertes LED (Light Emitting Diode) Ringlicht und Koaxialbeleuchtung mit vielseitigen Kontrastverfahren;
  • Digitalkamera mit schnellem Livebild und hervorragender digitaler Auflösung von 10 MP für hochwertige Bilder;
  • Software für intuitive, multifunktionale Probenanalyse und Mikroskopbedienung mit mehreren Benutzerprofilen;
  • Softwaregestützte Aufnahmemodi, z.B. XY- und XYZ-Stitching, sowie High-Dynamic-Range (HDR) Bildgebung.

Im folgenden werden die Kippfunktion und die vielseitige, integrierte Beleuchtung des Leica DVM6 und die sich daraus ergebenden Vorteile für die Inspektion schwer darstellbarer Proben beschrieben.

Die Grafik zeigt in einem Flussdiagramm, wie das Leica DVM6 im Vergleich zu anderen Methoden die Effizienz von Inspektionen und Arbeitsabläufen in der Qualitätskontrolle verbessert. Die Grafik zeigt, dass die zunehmende Effizienz von Arbeitsabläufen zur Verringerung der Prozesskomplexität und der Anzahl der Arbeitsschritte führt.

Digitalmikroskop Leica DVM6: Aufstellen und mit der Arbeit beginnen

Schnelle Einrichtung und einfache Bedienung

Nach dem Einstecken des Netzkabels und Anschluss des USB-Kabels am PC setzen Sie einfach ein Objektiv ein und können sofort beginnen mit dem DVM6 und der Leica Application Suite Software, in der Version X (LAS X) zu arbeiten. Das Leica DVM6 hat einen maximalen Arbeitsabstand von 60 mm und einen Objekttisch mit einem Verfahrbereich von 70 x 50 mm. Der Objekttisch ist für Proben bis zu einem Gewicht von 2 kg geeignet.

Die nachfolgenden Bilder zeigen:

  • Lauffläche und Querschnitt der Autoreifenprobe (Bild 3 und 4)
  • Oberfläche und seitliche Ansicht der Luftauslassblende (Bild 5 und 6)
  • Luftauslassblende auf dem Objekttisch (Bild 7)

Betrachtung der Probe aus verschiedenen Blickwinkeln

Kippfunktion

Wenn Sie eine Probe aus verschiedenen Blickwinkeln betrachten, erhalten Sie genauere Informationen über die Probe. Der Kopf des Leica DVM6 lässt sich in jedem Winkel zwischen +60° und -60° kippen, bezogen auf die neutrale vertikale Position. Der Objekttisch lässt sich kontinuierlich zwischen +180° und -180° drehen. Die Bilder 8-11 zeigen die Innenwandfläche eines Autoreifens und die Oberfläche einer Luftauslassblende aus Kunststoff, die mit dem Leica DVM6 in unterschiedlichen Kippwinkeln aufgenommen wurden. Die Kippachse ist euzentrisch, d. h. an der Probenfokusebene ausgerichtet. Sofern die Probe vorher fokussiert war, bleibt sie bei jedem Neigungswinkel im Fokus.

Probenausleuchtung mit unterschiedlichen integrierten Kontrastverfahren

Das integrierte LED-Ringlicht und die Koaxialbeleuchtung des Leica DVM6 ermöglichen die schnelle und einfache Anwendung mehrerer Kontrastverfahren, insbesondere Hellfeld, Dunkelfeld, Schräglicht und Polarisation mit Viertelwellenplatte. Diese Methoden vereinfachen die Betrachtung feiner Probendetails, die normalerweise schwer erkennbar sind.

Die LAS X Software ermöglicht es, im Livemodus mit aktivierter Bildvorschaufunktion dank vordefinierter Beleuchtungsparameter (z. B. Beleuchtungsart, -stärke, Belichtungszeit, Kontrast, HDR Bildgebung etc.) automatisch sechs verschiedene Bilder aufzunehmen. Sie entscheiden anschließend, welches dieser sechs Bilder die aktuelle Probe am besten wiedergibt. Dieses Vorschaubild dient dann als Ausgangspunkt für Ihre Bildaufnahme. Sie können vordefinierte Einstellungen unverändert übernehmen oder sie zur Optimierung für das im Livemodus angezeigte Bild feinabstimmen.

Die Bildvorschau ermöglicht Ihnen, die Auswirkung der verschiedenen Beleuchtungen und Kontrastierungen besser zu beurteilen. Die folgenden Bilder 12-15 zeigen einen Querschnitt der Autoreifenprobe. Erkennbar sind Metalldrähte, nicht-metallische Fäden und das Reifengummi. Des Weiteren folgen Bilder (16-20) einer Luftauslassblende aus Kunststoff mit einem Defekt auf der Oberfläche. Die Bilder wurden mit dem Leica DVM6 und den angegebenen Beleuchtungsmodi aufgenommen.

Zusammenfassung

Für die Inspektion, Qualitätskontrolle und Fehleranalyse von Bauteilen, wie Reifen und Luftauslassblenden, sind viele Lösungen verfügbar. Das Digitalmikroskop Leica DVM6 bietet Anwendern Vorteile wie Kodierung, schneller Vergrößerungswechsel, eine 10 MP Kamera und intuitive Software. Insbesondere die Kippfunktion und die vielseitige, integrierte Beleuchtung des Leica DVM6 ermöglichen eine effektive und effiziente Untersuchung schwer darstellbarer Proben, wie beispielsweise schwarzer Gummiautoreifen und weißer Kunststoffblenden.

Danksagung

Wir danken Giancarlo Parma (Leica Microsystems, Italien) für die Bereitstellung der Reifenproben.

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