Sauberkeitsanalyse mit einer 2-in-1-Workflow-Lösung

Setzen Sie zukünftige Anforderungen an die Produktsauberkeit effizient um – mithilfe des LIBS-Systems (Laser Induced Breakdown Spectroscopy)

Leica Microsystems zeigte den Teilnehmern des 10. Fachkongress „Technische Sauberkeit“ in Berlin auf, wie sie sich auf zukünftige Anforderungen an die Produktsauberkeit vorbereiten und diese in der Routine umsetzen können. Denn technische Sauberkeit ist ein Qualitätsmerkmal und hat einen hat einen entscheidenden Einfluss auf die Funktionalität und Langlebigkeit eines Produktes. Durch die sichere Identifizierung von harten und abrasiven sowie von leitenden Partikeln kann dies gewährleistet werden.

Das Übersehen von leitenden & abrasiven Partikeln kann Sie teuer zu stehen kommen.

Die schnelle und sichere Analyse der Produktsauberkeit in der Automobil-, Öl-, und Schmierstoff- Industrie sowie in der Raumfahrt war schon immer ein kritischer Faktor für die Produktqualität. Doch seit einigen Jahren rückt die Produktsauberkeit noch stärker in den Vordergrund, da Komponenten und Baugruppen immer kleiner und die Leistungsdichten immer größer werden. Leitende und abrasive Partikel beinhalten ein erhöhtes Schadenspotential und führen im Extremfall zu Produktausfall und Reklamationen, die dem Unternehmen Beträchtliches kosten kann. Um diese Kostenfaktoren zu vermeiden und den wachsenden externen und regulativen Anforderungen gerecht zu werden, stehen viele Unternehmen vor der Herausforderung einen effizienten Sauberkeitsprozess in ihre Routine einzubinden.

Reinigen, extrahieren und analysieren Sie in einem Workflow.  

Pall und Leica Microsystem bieten einen ineinandergreifenden Sauberkeitsprozess an, der in den täglichen Arbeitsablauf nahtlos eingefügt werden kann. Dabei wird die Reinigung der Produktteile in den Pall Cleanliness Cabinets durchgeführt, um die Partikel daraufhin zu extrahieren und mithilfe der Leica Microsystems Solutions zu analysieren. Das Ergebnis führt zu einer schnellen und genauen Einschätzung des Schadenspotentials, damit angemessen reagiert werden kann, bevor es zu spät ist.

Unterschätzen Sie nicht das Schadenspotential von metallischen Partikeln.

Das Schadenspotenzial von metallischen und abrasiven Partikeln ist sehr viel höher als bei nicht- metallischen bzw. weichen Partikeln. Zum einen sind metallische und abrasive Partikel hart und schädigen mechanische Systeme, zum anderen besitzen Metalle verschiedene Leitfähigkeiten und ein Übersehen dieser kann zu schwerwiegenden Produktfehlern, wie z. B. einem Kurzschluss in der Elektronik, führen. Eine erste Möglichkeit um herauszufinden, ob es sich um ein Metall handelt, ist die Anwendung der Glanz – Methode. Doch dabei ist nicht sichergestellt, dass alle Metallpartikel identifiziert wurden, auch bleibt die Leitfähigkeit des Metalls weiterhin im Dunkeln. Um Licht ins Dunkel zu bringen bietet Leica Microsystems eine Kombination von optischer und chemischer Analyse an, die schnell und einfach angewendet werden kann und sichere Ergebnisse liefert.

Grenzen Sie das Schadenspotential mit der optischen Analyse ein.

Eine der gängigsten Analyse Methoden für die Kontrolle der Produktsauberkeit ist die optische Analyse. Sie liefert viele Ergebnisse, ist einfach und schnell zu bedienen, wird in vielen Standards genutzt - sie ist so etwas wie der Gold Standard. Doch um dem Wandel der Zeit gerecht zu werden, ist die optische Analyse oftmals nicht ausreichend, denn liefert sie keine sicheren Ergebnisse zu leitenden und/ oder abrasiven Merkmalen. Diese können nur durch weiterführende Analysen wie z. B. durch chemische Analysenmethoden bestimmt werden.

Erhalten Sie schnelle und akkurate Ergebnisse mit dem LIBS- System.

Leica Microsystems bietet eine Zusatzfunktion zu der optischen Analyse an: das sogenannte LIBS- System (Laser Induced Breakdown Spectroscopy). Ein auf Lasertechnologie basierendes chemisches Analysetool welches sichere Ergebnisse sekundenschnell liefert. Dabei wird nicht auf den etablierten Standardprozess der optischen Analyse verzichtet: Filter werden automatisch abgescannt und Partikelgrößen, -anzahl und -geometrien ermittelt. Anschließend können beispielsweise verschiedene Partikelklassen automatisch mit LIBS analysiert werden, oder Partikel werden individuell relokalisiert und bei Bedarf analysiert. Ein Wechsel zwischen optischem und chemischem Modus ist jederzeit möglich. Dadurch lässt sich LIBS problemlos in den Sauberkeitsprozess integrieren. Während REM/EDX Systeme oftmals höhere Anforderungen an die Umgebung, Proben oder den Benutzer stellen, wie Strahlenschutz, planare Proben oder Expertenwissen, kann das LIBS System einfach in ein Labor integriert werden.  Durch seine intuitive Benutzeroberfläche und sein hohes Maß an Automatismus sind Anwender in der Lage schnell und sicher Analysen durchzuführen.

Integrieren Sie das LIBS-System in Ihren täglichen Arbeitsprozess und seien Sie damit in der Produktsicherheit für die Zukunft gewappnet.

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