Fünftägiger Workshop für EM Probenvorbereitung für industrielle Werkstoffe in Wien, Österreich

Vom 17. bis 21. November veranstaltet Leica Microsystems einen fünftägigen Workshop zu verschiedenen Techniken der Probenvorbereitung für industrielle Werkstoffe in der Trainingseinrichtung von Leica Microsystems im österreichischen Wien. Experten vermitteln den Teilnehmern in Präsentationen und praktische Übungen Wissenswertes über Probenvorbereitung unter Raum- und Kryobedingungen.

Um bestmögliche Ergebnisse im Bereich der Probenvorbereitung für die Materialkunde zu erzielen, bietet Leica Microsystems eine breite Palette an Produkten für die Probenvorbereitungen zur Untersuchung von Werkstoffen unter dem Elektronenmikroskop, Lichtmikroskop, Konfokalmikroskop sowie Rasterkraftmikroskop an. Während des fünftägigen Workshops im November lernen die Teilnehmer in Präsentationen und praktischen Übungen verschiedenen Techniken kennen

Bob Vastenhout von DOW Benelux BV aus Holland ist Spezialist im Bereich der Ultramikrotomie von Polymerwerkstoffen und Gummi, dem Kontrastieren mit OsO4 und RuO4[NH1] , sowie dem semi- und ultradünnen Schneiden dieser Werkstoffe. Helmut Gnaegi, Produktmanager bei Diatome in Biel, Schweiz, entwickelte eine Technik für die Herstellung von Diamantmessern zur Verwendung im Ultramikrotom. Er wird über die Vorbereitung und Ultradünnschnitttechnik von harten und spröden Proben für TEM, SEM und AFM sowie über Trimmen, Schneiden und Aufnehmen des Schnittes referieren. Beide Referenten werden praktische Übungen leiten, in denen die Teilnehmer selbst mitgebrachte Proben vorbereiten können.

Zudem werden alle Beteiligten die Anwendung von mechanischen Präparationsinstrumenten lernen, wie etwa dem Zielpräzisionsinstrument Leica EM TXP, das speziell für das Fräsen, Sägen, Schleifen und Polieren von Proben entwickelt wurde, das Ultramikrotom Leica EM UC7 zur Herstellung von semi- und ultradünnen Schnitten von biologischen und industriellen Proben für die Untersuchungen im TEM, REM, AFM und LM und die Kryokammer für Ultramikrotome Leica EM FC7. Außerdem werden die Teilnehmer mit dem Ionenstrahl-Ätzsystem Leica EM TIC 3X zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Oberflächen von hartem, weichem, porösen, wärmeempfindlichen, sprödem und heterogenem Material sowie dem Ionenstrahl-Ätzsystem Leica EM RES102 mit dem unter anderem elektronenstrahltransparente Proben für TEM Untersuchungen hergestellt werden können, arbeiten.

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