Leica DVM6 für Benutzerfreundlichkeit ausgezeichnet

Wetzlar. Das Digitalmikroskop Leica DVM6 erhält den Red Dot Award: Product Design 2016. Mit der Auszeichnung „Honourable Mention“ prämiert Red Dot das jüngste Digitalmikroskop im Angebot von Leica Microsystems für sein klares, durchdachtes Design. Die intuitive und geradlinige Bedienung des Leica DVM6 ermöglicht Anwendern in der Qualitätssicherung und Qualitätskontrolle, schnell die richtigen Entscheidungen zu treffen. Auf der Messe Control vom 26. bis 29. April 2016 in Stuttgart kann man das Leica DVM6 live am Stand von Leica Microsystems erleben.

„Das Leica DVM6 besticht durch optische Qualität und Bedienfreundlichkeit“, erläutert Markus Lusser, Präsident von Leica Microsystems. „Richtschnur bei der Entwicklung waren die praktischen Anforderungen unserer Kunden: Schnelligkeit, hoher Automatisierungsgrad und Vielseitigkeit. Diese Eigenschaften helfen Zeit zu sparen, erleichtern Arbeitsabläufe und liefern ohne viel Einarbeitung Resultate, um sichere Entscheidungen zu treffen. Wir freuen uns sehr, dass die internationale Jury des Red Dot Awards dies honoriert hat.“

Die Preisverleihung findet am 4. Juli 2016 in Essen auf der Red Dot Gala statt. Im Anschluss daran werden alle Siegerprodukte vier Wochen lang in einer Sonderausstellung im Red Dot Design Museum in Essen ausgestellt, bevor sie in die Dauerausstellung übernommen werden.

Das Leica DVM6 und weitere Produkte auf dem Leica Microsystems Stand auf der Control 

In der Qualitätskontrolle spielt die Digitalmikroskopie eine zunehmende Rolle. Ein Schwerpunktthema auf der diesjährigen „Control“, der Fachmesse für Qualitätssicherung in Stuttgart, ist deshalb die Fragestellung, wie Digitalmikroskope Anwender in der Qualitätskontrolle, -sicherung und Fehleranalyse unterstützen können.

Neben dem Leica DVM6 können die Besucher des Leica Microsystems Stands 1712 in Halle 1 weitere Systeme kennenlernen und testen: das 3D-Oberflächenmesssystem Leica DCM8 und das Leica DMS1000, ein Digitalmikroskop für einfache Inspektionen und Messungen.

Messebesucher können sich zudem von den Vorteilen des inversen Mikroskops Leica DMi8 überzeugen, mit dem Anwender große Proben mit bis zu 80 mm Höhe und 8 kg Gewicht untersuchen können. Ebenfalls am Stand bei Leica Microsystems ist das Ionenstrahlätzsystem Leica EM TIC 3X für die Präparation von Materialproben. Es erstellt hochwertige Querschnitte für die Analyse der inneren Probenstruktur ohne die Probe stark zu beanspruchen oder zu beschädigen. 

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