Coatings of semi-bright nickel and bright nickel over a copper layer on ABS plastic. Photo: Atotech SpainCoatings of semi-bright nickel and bright nickel over a copper layer on ABS plastic. Photo: Atotech Spain

Preparación de muestras para la ciencia de los materiales

La preparación de las muestras es clave para poder observar las texturas y detalles más sutiles en la superficie de la muestra en alta resolución. Contar con un flujo de trabajo idóneo y con las herramientas apropiadas para la preparación previa conseguirá una preparación excelente de la muestra, minimizará el tiempo del procedimiento y le hará obtener resultados fiables y precisos.

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Preparación de la superficie de blancos: acelere los procesos sin renunciar a la calidad

En la ciencia de materiales ya no es necesario escoger entre calidad y rapidez a la hora de preparar una muestra, como se podría pensar en un primer momento. Al igual que en otros ámbitos del procesamiento de materiales, un cambio de herramienta apropiado al pasar de la preparación previa al proceso de acabado ayuda a acelerar y controlar mejor el siguiente proceso.

Ya que permite detectar y preparar con facilidad objetivos apenas visibles

El Leica EM TXP es una herramienta específica para la preparación de la superficie de blancos de las muestras antes de examinarlas. Es la mejor opción para acercarse al área de interés para la preparación final. El sistema EM TXP permite fresar, aserrar, triturar y pulir muestras con un único instrumento. Resulta ideal para trabajar con muestras difíciles, ya que permite detectar y preparar con facilidad objetivos apenas visibles. El microscopio estereoscópico integrado permite la terminación de la superficie y el examen del objetivo de forma directa.

See how to cut by half the sample preparation time for IC gold wire bonding

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El equipo perfecto para lograr una preparación de la superficie de alta calidad

Si precisa una preparación de la superficie de alta calidad, opte por el sistema de fresado con haz de iones EM TIC 3X tras los procesos de corte y pulido mecánicos. Gracias al procesamiento previo podrá ahorrar un valioso tiempo para la preparación final con el haz de iones. Coloque el filtro de cuña muy cerca del área objetivo y utilice el proceso de fresado con haz de iones para eliminar cualquier artefacto que haya quedado de los pasos de preparación mecánica.

El sistema de fresado EM TIC 3X permite fabricar secciones transversales y superficies alisadas para la microscopía electrónica de barrido (SEM), el análisis de microestructuras (EDS, WDS, Auger, EBSD) y para estudios AFM y de microscopía de luz incidente.

Tecnología de revestimiento para la microscopía electrónica

Las muestras de materiales no conductivos o de baja conductividad, como la cerámica o los polímeros, precisan un revestimiento de carbono o de metal para aplicar los métodos de procesamiento de imágenes SEM y TEM. Un recubridor de carbono versátil, como el Leica EM ACE600, proporciona películas de soporte ultrafinas de carbono para el procesamiento de imágenes con resolución atómica. Un revestimiento conductor de grosor uniforme previene la acumulación de cargas en la muestra y proporciona la fuerza apropiada para resistir el bombardeo de electrones. El recubridor de alto vacío EM ACE600 se puede configurar de diferentes formas: para pulverización, para la evaporación de hilos de carbono, para la evaporación de barras de carbono, para la evaporación de haces de electrones y para la descarga luminiscente.

El equipo perfecto para el seccionado

Si tiene previsto preparar secciones de muestras de la cara del bloque con forma perfecta y bordes afilados, el procesamiento previo con el sistema de fresado EM TXP, EM TRIM2 o EM RAPID influirá notablemente en la calidad superficial de los materiales. El ultramicrótomo Leica EM UC7 permite preparar con facilidad secciones semifinas y ultrafinas, así como muestras con superficies perfectamente lisas para su examen mediante las técnicas TEM, SEM, AFM y LM.

Cutting Aluminium with the EM UC7 Ultramicrotome from Leica

Sputter Coater & Freeze Fracture Solutions

Sistemas de recubridores

Para permitir y mejorar la captura y procesamiento de imágenes de las muestras en el microscopio electrónico, estas deben ser conductoras. Se puede aplicar una amplia gama de técnicas de recubrimiento, en función de la muestra y de su preparación para el análisis. Desde el recubrimiento a temperatura ambiente de bajo vacío hasta el criorrecubrimiento de alto vacío, Leica Microsystems satisface toda la gama de requisitos para el recubrimiento.

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 Due to the open chamber design and continuous gas exchange the SampLink chambers keep live cells healthy

Preparación criogénica

La congelación por alta presión es con frecuencia el método preferido para conservar muestras acuosas en un estado próximo al nativo, ya que captura los cambios complejos en estructuras pequeñas o en la dinámica celular. Leica Microsystems combina la congelación a alta presión con la estimulación luminosa. Permite visualizar procesos altamente dinámicos o los cambios estructurales de las muestras fotosensibles con una resolución de nanómetros y con una precisión de milisegundos.

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Overview of Drosophila gastric caeca and a mitochondrion with well-defined cristae and well-preserved surrounding membranes. Micrographs courtesy of Dr. Syed (NIH/NIDCR) and Dr. Bleck (NIH/NHLBI)

Ultramicrotomos y Cryo-Ultramicrotomos

Tanto si se trata de una muestra de tejido, un polímero, goma, metales o nanopartículas, los ultramicrótomos Leica permiten obtener secciones extremadamente finas y una calidad perfecta en la superficie en una amplia gama de aplicaciones. Desde la ciencia de los materiales hasta la investigación del cáncer, nuestros ultramicrótomos se utilizan para muchos tipos diferentes de investigaciones y controles de calidad en todo el mundo.

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Sputter Coater & Freeze Fracture Solutions
 Due to the open chamber design and continuous gas exchange the SampLink chambers keep live cells healthy
Overview of Drosophila gastric caeca and a mitochondrion with well-defined cristae and well-preserved surrounding membranes. Micrographs courtesy of Dr. Syed (NIH/NIDCR) and Dr. Bleck (NIH/NHLBI)

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