Análisis de limpieza con una solución de flujo de trabajo 2 en 1

Resumen de la presentación "Demandas futuras en la limpieza del producto - Identificación de partículas conductoras y abrasivas como parte de la rutina" del Dr. Nicol Ecke

Utilice el sistema LIBS (espectroscopia de plasmas inducidos por láser) para aplicar de forma eficiente los requisitos futuros relativos a la limpieza de los productos

En el 10º congreso profesional «Technische Sauberkeit» (Limpieza técnica) de Berlín, Leica Microsystems mostró a los participantes la forma en la que es posible prepararse para los futuros requisitos de limpieza de los productos y hacerlos parte de la rutina diaria. No hay duda de que la limpieza técnica es una característica de calidad y tiene un papel decisivo en la función y duración del producto. Esto puede garantizarse mediante la identificación confiable de partículas duras, abrasivas y conductoras.

Pasar por alto las partículas conductoras y abrasivas puede costarle muy caro.

El análisis rápido y seguro de la limpieza de los productos en las industrias automovilística, del petróleo y de los lubricantes, así como en el sector aeroespacial, siempre ha sido un factor crítico para evaluar la calidad de los productos. Sin embargo, desde hace algunos años, la limpieza de los productos ha ido ganando, pues los componentes y ensamblajes son cada vez más pequeños y las densidades de potencia, cada vez mayores. Las partículas conductoras y abrasivas tienen un alto potencial de causar daños y, en casos extremos, pueden provocar un fallo en la producción o dar lugar a reclamaciones que pueden suponer un gran coste para la empresa. Con el fin de evitar estos factores de costes y cumplir los crecientes requisitos externos y normativos, muchas empresas se enfrentan al reto de incorporar en su rutina de trabajo un proceso de limpieza eficiente.

Limpie, extraiga y analice en un flujo de trabajo. 

Pall y Leica Microsystems ofrecen un proceso de limpieza entrelazado que se puede integrar a la perfección en la dinámica de trabajo diaria. En este caso, la limpieza de las partículas del producto se realiza en los armarios de limpieza de Pall y, después, las partículas se extraen y se analizan con ayuda de las soluciones de Leica Microsystems Solutions. Como resultado, es posible realizar una evaluación rápida y precisa del potencial de daños para poder tomar las medidas adecuadas antes de que sea demasiado tarde.

No subestime el potencial de daños de las partículas metálicas.

El potencial de daños de las partículas metálicas y abrasivas es mucho más alto que el de las partículas no metálicas o blandas. Por un lado, las partículas metálicas y abrasivas son duras y provocan daños en los sistemas mecánicos y, por otro lado, los metales poseen diferentes niveles de conductividad, por lo que, si no se detectan, pueden producirse problemas graves en los productos, como un cortocircuito en el sistema electrónico. Una primera forma de averiguar si se trata de un metal consiste en utilizar el método del brillo. Sin embargo, en este caso, no está garantizado que se identifiquen todas las partículas de metal y, no proporciona información sobre la conductividad del metal. Así, para ayudar en este tema, Leica Microsystems ofrece una combinación de análisis óptico y químico que puede aplicarse de forma rápida y sencilla y, al mismo tiempo, permite obtener resultados seguros.

Reduzca el potencial de daños con el análisis óptico.

Uno de los métodos más usados para controlar la limpieza del producto es el análisis óptico. Proporciona una amplia gama de resultados, resulta fácil y rápido de manejar y se ha utilizado en muchos estándares; en definitiva, es algo así como el modelo de referencia. Pero el análisis óptico a menudo no es suficiente para mantenerse al día con los cambios, ya que no proporciona resultados fiables sobre las propiedades conductoras y/o abrasivas. Estas solo pueden determinarse mediante análisis adicionales, como los análisis químicos.

Obtenga resultados rápidos y precisos gracias al sistema LIBS.

Leica Microsystems ofrece una función adicional aparte del análisis óptico: el llamado sistema LIBS (siglas en ingles de espectroscopia de plasmas inducidos por láser). Una herramienta de análisis químico basada en tecnología láser que proporciona resultados confiables casi de forma instantánea. Utiliza el proceso estándar establecido de análisis óptico: los filtros se escanean automáticamente y determinan el tamaño, la cantidad y la geometría de las partículas.

Entonces, por ejemplo, las diferentes clases de partículas pueden analizarse automáticamente con el sistema LIBS, o, si es necesario, las partículas pueden ser relocalizadas individualmente yanalizadas. Es posible cambiar en cualquier momento entre el modo óptico y el químico. Y, de este modo, el sistema LIBS puede integrarse fácilmente en el proceso de limpieza. Mientras que los sistemas REM/EDX imponen con frecuencia requisitos muy exigentes al medio ambiente, a las muestras o al usuario, como la protección contra las radiaciones, las muestras planas o los conocimientos expertos, el sistema LIBS puede integrarse fácilmente en un laboratorio.  Gracias a su intuitiva interfaz de usuario y a su alto grado de automatización, los usuarios son capaces de realizar análisis de forma rápida y segura.

Integre el sistema LIBS en sus procesos diarios y prepárese para el futuro de la confiabilidad de los productos.

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