Seminario web gratuito: Aplicaciones de microscopía confocal e interferometría en metrología de superficies e inspección

Presentador:

Bill Henderson
Especialista en metrología, Norteamérica, Leica Microsystems, Inc

En este seminario web, descubrirá:

  • las ventajas y limitaciones de la microscopía confocal y la interferometría en el campo de la metrología de superficies
  • Cómo se pueden combinar tecnologías complementarias en muchas aplicaciones para mejorar sus capacidades individuales
  • Cómo un software de análisis potente puede generar datos que ofrecen una valiosa perspectiva de la naturaleza de las superficies que se examinan

http://www.asminternational.org/webinars

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