[Translate to spanish:] Leica DCM8 is a 3D surface metrology microscope that unites confocal microscopy and interferometry in one instrument.[Translate to spanish:] Leica DCM8 is a 3D surface metrology microscope that unites confocal microscopy and interferometry in one instrument.

Leica Microsystems lanza la solución de metrología de superficies 3D

Wetzlar, Alemania. Leica Microsystems lanza el modelo Leica DCM8 para realizar análisis no destructivos de perfiles de superficies en tres dimensiones. El instrumento es un perfilómetro óptico confocal e interferométrico combinado y, por lo tanto, aúna las ventajas de ambas tecnologías: microscopía confocal de alta definición para alcanzar una máxima resolución lateral e interferometría para lograr resoluciones verticales a escala subnanométrica. Ambas técnicas pueden ser importantes en el análisis de superficie de materiales y componentes en numerosos entornos de investigación y producción. Las superficies que se componen de estructuras intrincadas con áreas muy inclinadas requieren una resolución lateral de unas pocas micras. Por otra parte, las superficies pulidas completamente lisas con micropicos y microvalles críticos requieren un análisis vertical a escala nanométrica.

Con el modelo Leica DCM8, los usuarios serán capaces de satisfacer sus necesidades específicas de metrología de superficies gracias a su resolución lateral de hasta 140 nm mediante microscopía confocal y su resolución vertical de hasta 0,1 nm mediante interferometría. Stefan Motyka, Coordinador de Jefes de Producto del Área Industrial, dijo lo siguiente: "El Leica DCM8 es un perfilómetro versátil y preciso que le permite ahorrar tiempo y dinero: los usuarios no tendrán que cambiar de instrumento para poder observar y medir la misma muestra con tecnología confocal e interferométrica; tan solo necesitan uno. Además, la facilidad de configuración y funcionamiento del microscopio ahorra trabajo y consigue resultados precisos de manera rápida y cómoda".

Para lograr esta elevada resolución y velocidad, el modelo Leica DCM8 emplea tecnología de escaneado confocal sin partes móviles en el cabezal del sensor para mejorar la reproducibilidad y estabilidad. Asimismo, pasar de una técnica a otra es rápido y sencillo, solo es necesario un clic del ratón.

Christof Scherrer, IMPE, Winterthur, Suiza, dice lo siguiente: "Decidimos comprar el sistema Leica DCM debido a sus posibilidades de funcionamiento como microscopio óptico de campo claro, campo oscuro y confocal, así como por sus tres modos interferométricos. La flexibilidad es el factor más importante para un instituto diversificado que se dedica a la ciencia de materiales como el nuestro".

Además de las diferentes tecnologías de observación y análisis de las que dispone, el modelo Leica DCM8 es un instrumento ideal para la documentación precisa del color de las muestras. Una amplia selección de objetivos Leica de alta calidad, junto con cuatro fuentes de luz LED, azul (460 nm), verde (530 nm), roja (630 nm) y blanca (centrado 550 nm), y una cámara CCD integrada ofrecen imágenes en color realistas. La cámara tiene un gran campo de visión y, por si no fuera suficiente, se puede elegir el modo de tejido topográfico en XY (XY topography-stitching) para obtener un modelo preciso y continuo de un área mayor. El software intuitivo permite a los usuarios simplificar análisis complicados en 3D y 2D y se puede configurar para adaptarlo a sus necesidades.

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[Translate to spanish:] Leica DCM8 is a 3D surface metrology microscope that unites confocal microscopy and interferometry in one instrument.
[Translate to spanish:] Leica DCM8 makes swapping instruments unneccessary, offering both confocal and interferometry technology.