Sección transversal pulida iónica de soldadura de hilos de oro IC

Mercado: control de calidad/investigación en microelectrónica

Esta nota de aplicación describe el método de preparación

"Sección transversal pulida iónica de soldadura de hilos de oro IC:

mejora de la calidad tras pulido mecánico"

utilizando el Leica EM RES101

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