Presentador:
Bill Henderson
Especialista en metrología, Norteamérica, Leica Microsystems, Inc
En este seminario web, descubrirá:
- las ventajas y limitaciones de la microscopía confocal y la interferometría en el campo de la metrología de superficies
- Cómo se pueden combinar tecnologías complementarias en muchas aplicaciones para mejorar sus capacidades individuales
- Cómo un software de análisis potente puede generar datos que ofrecen una valiosa perspectiva de la naturaleza de las superficies que se examinan
http://www.asminternational.org/webinars
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