Analyse de la propreté avec une solution de flux de travail 2 en 1

Résumé de la présentation "Exigences futures en matière de propreté des produits - Identification des particules conductrices et abrasives dans le cadre du travail de routine" par Dr Nicol Ecke

Mettre en place les futures exigences de propreté des produits à l’aide du système LIBS.

Leica Microsystems a montré aux participants du 10ème congrès de « propreté technique » à Berlin comment se préparer aux futures exigences en matière de propreté des produits et comment intégrer ce concept dans leurs process. La propreté technique est un marqueur de qualité et a une influence décisive sur la fonctionnalité et la longévité d’un produit. Il est possible de garantir cette propreté par une identification fiable des particules dures et abrasives ainsi que des particules conductrices.

Ne pas tenir compte des particules conductrices et abrasives peut vous coûter cher.

L’analyse rapide et fiable de la propreté des produits dans l’industrie automobile, pétrolière, lubrifiante et aérospatiale a toujours été un facteur critique pour la qualité des produits. Ces dernières années, la propreté du produit est devenue encore plus importante, les composants et les assemblages devenant de plus en plus petits et les densités de puissance toujours plus grandes. Les particules conductrices et abrasives présentent un potentiel de dommages accru et, dans des cas extrêmes, peuvent entraîner des pannes et des réclamations qui peuvent coûter très cher à l’entreprise. Afin d’éviter ces coûts et de répondre aux exigences externes et réglementaires croissantes, de nombreuses entreprises sont confrontées au défi d’intégrer un processus de propreté efficace dans leurs procédures.

Nettoyer, extraire et analyser dans un flux de travail 

Pall et Leica Microsystem offrent un processus de propreté imbriqué qui peut être intégré de manière harmonieuse dans le flux de travail quotidien. Les pièces du produit sont nettoyées dans les armoires de nettoyage « Pall Cleanliness Cabinets » afin d’extraire les particules et de les analyser à l’aide des solutions Leica Microsystems. Le résultat conduit à une évaluation rapide et précise du potentiel de dommages afin que des mesures appropriées puissent être prises avant qu’il ne soit trop tard.

Ne sous-estimez pas la dangerosité des particules métalliques.

Le potentiel de dommages des particules métalliques et abrasives est beaucoup plus élevé que celui des particules non métalliques ou de faible dureté. D’une part, les particules métalliques et abrasives sont dures et endommagent les systèmes mécaniques. D’autre part, les métaux ont des conductivités différentes, un facteur à prendre en compte pour éviter de graves défauts du produit, comme un court-circuit dans les composants électroniques. Une première façon de savoir s’il s’agit d’un métal est d’utiliser la méthode de brillance. Cependant, il n’est pas garanti que toutes les particules métalliques soient identifiées. En outre, la conductivité du métal reste indéterminée. Pour apporter ces informations manquantes, Leica Microsystems propose une combinaison d’analyses optiques et chimiques qui peuvent être appliquées rapidement et facilement pour obtenir des résultats fiables.

Limiter le potentiel de dommages grâce à l’analyse optique.

L’une des méthodes d’analyse les plus courantes pour vérifier la propreté du produit est l’analyse optique. Celle-ci donne de nombreux résultats, est facile et rapide à utiliser, est utilisée dans de nombreuses normes - c’est un peu la référence. Cependant, l’analyse optique n’est souvent pas suffisante pour faire face à l’évolution technologique, car elle ne fournit pas de résultats fiables sur les caractéristiques conductrices et/ou abrasives. Celles-ci ne peuvent être déterminées qu’au moyen d’autres analyses, telles que des méthodes d’analyse chimique.

Obtenez des résultats rapides et précis avec le système LIBS.

Leica Microsystems offre une fonction supplémentaire à l’analyse optique : le système LIBS (Laser Induced Breakdown Spectroscopy), un outil d’analyse chimique basé sur la technologie laser qui fournit des résultats fiables en quelques secondes. Pour autant, cette méthode ne se passe pas du processus standard établi de l’analyse optique : les filtres sont automatiquement scannés et la taille, le nombre et la géométrie des particules sont déterminés. Il est ensuite possible d’analyser différentes classes de particules automatiquement à l’aide de LIBS ou de les relocaliser et les analyser individuellement selon les besoins. Le passage du mode optique au mode chimique est possible à tout moment. Cela permet d’intégrer facilement le LIBS dans le processus de propreté. Alors que les systèmes REM/EDX imposent souvent des exigences plus élevées en ce qui concerne l’environnement, les échantillons ou l’utilisateur (radioprotection, échantillons planaires, connaissances spécialisées, etc.), le système LIBS peut facilement être intégré en laboratoire.  Grâce à son interface utilisateur intuitive et à son haut degré d’automatisation, les utilisateurs sont en mesure d’effectuer rapidement des analyses d’une grande fiabilité.

Intégrez le système LIBS dans votre processus de travail quotidien et soyez prêt pour l’avenir en matière de sécurité des produits.

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